单探头法天线性能测试技术研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 天线测量技术发展及应用 | 第10-11页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第11页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第11-13页 |
| 第二章 天线测量的基本理论 | 第13-32页 |
| 2.1 天线周围的场区分布 | 第13-15页 |
| 2.1.1 感应场区 | 第14页 |
| 2.1.2 近场区 | 第14-15页 |
| 2.1.3 远场区 | 第15页 |
| 2.2 远场测量 | 第15-17页 |
| 2.2.1 室外远场 | 第15-16页 |
| 2.2.2 室内远场 | 第16页 |
| 2.2.3 紧缩场 | 第16-17页 |
| 2.3 近场测量 | 第17-21页 |
| 2.3.1 平面扫描技术 | 第19页 |
| 2.3.2 柱面扫描技术 | 第19页 |
| 2.3.3 球面扫描技术 | 第19-20页 |
| 2.3.4 三种扫描技术的比较 | 第20-21页 |
| 2.4 近远场变换技术 | 第21-30页 |
| 2.4.1 电磁场中的基本理论 | 第21-23页 |
| 2.4.2 近远场变换技术研究现状 | 第23-24页 |
| 2.4.3 常见近远场变换方法 | 第24-30页 |
| 2.5 近远场测量的比较 | 第30-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 天线测量系统的设计与搭建 | 第32-44页 |
| 3.1 取样架子系统 | 第32-35页 |
| 3.2 转轴子系统 | 第35-39页 |
| 3.2.1 控制系统设计 | 第36-39页 |
| 3.3 发射接收子系统 | 第39-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 基于单探头的天线性能测试 | 第44-63页 |
| 4.1 基于单探头的天线方向图测试 | 第44-51页 |
| 4.1.1 方向图测试方法 | 第44-45页 |
| 4.1.2 方向图的测试 | 第45-51页 |
| 4.2 基于单探头的天线增益测试 | 第51-61页 |
| 4.2.1 增益测试方法 | 第52-57页 |
| 4.2.2 增益的测试 | 第57-61页 |
| 4.3 本章小结 | 第61-63页 |
| 第五章 测量系统的误差分析与讨论 | 第63-73页 |
| 5.1 天线方向图测量误差 | 第63-70页 |
| 5.1.1 有限距离对测试的影响 | 第63-65页 |
| 5.1.2 周围物体反射引起的误差 | 第65-67页 |
| 5.1.3 方向图角度测量误差 | 第67-69页 |
| 5.1.4 探头误差分析 | 第69-70页 |
| 5.2 增益测量误差 | 第70-72页 |
| 5.2.1 阻抗失配误差及修正 | 第70-71页 |
| 5.2.2 极化失配 | 第71页 |
| 5.2.3 有限测试距离导致的误差 | 第71-72页 |
| 5.2.4 收发天线间耦合的影响 | 第72页 |
| 5.3 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 结论 | 第73-75页 |
| 6.1 本文的主要内容及优点 | 第73-74页 |
| 6.2 本文的不足及对未来的展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第78页 |
