亚毫米磁性单元制备及其高频磁性能的研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 微电感器的发展 | 第10-11页 |
| 1.1.2 电感器件发展的局限 | 第11-12页 |
| 1.2 微纳米磁性结构的研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 微磁学概述 | 第12-13页 |
| 1.2.2 微磁学模拟理论简介 | 第13-15页 |
| 1.2.3 微磁学计算的应用 | 第15-16页 |
| 1.3 本论文的主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 亚毫米点阵的制备与测试 | 第18-30页 |
| 2.1 亚毫米点阵的制备工艺 | 第18-20页 |
| 2.2 长度变化点阵的制备和测试 | 第20-25页 |
| 2.2.1 长度变化点阵制备 | 第21页 |
| 2.2.2 长度变化点阵的测试分析 | 第21-25页 |
| 2.3 厚度变化点阵的制备以及测试 | 第25-27页 |
| 2.3.1 厚度变化点阵的制备 | 第25-26页 |
| 2.3.2 厚度变化点阵的测试分析 | 第26-27页 |
| 2.4 分层变化点阵的制备以及测试 | 第27-29页 |
| 2.4.1 分层变化点阵的制备 | 第27-28页 |
| 2.4.2 分层变化点阵的测试分析 | 第28-29页 |
| 2.5 小结 | 第29-30页 |
| 第三章 微带法测试磁谱的改进 | 第30-45页 |
| 3.1 测试原理 | 第30-32页 |
| 3.2 微带反射法的测试过程 | 第32-34页 |
| 3.3 微带测试夹具的结构设计 | 第34-36页 |
| 3.3.1 测试微带线设计 | 第34页 |
| 3.3.2 测试微带线高频仿真 | 第34-36页 |
| 3.4 微带测试的改进 | 第36-43页 |
| 3.4.1 后处理软件简介 | 第36-37页 |
| 3.4.2 微带测试比例系数的改进 | 第37-41页 |
| 3.4.3 微带测试去嵌入 | 第41-42页 |
| 3.4.4 改进后的磁谱测试及分析 | 第42-43页 |
| 3.5 小结 | 第43-45页 |
| 第四章 微磁单元的动态磁性能模拟 | 第45-57页 |
| 4.1 微磁单元动态模拟基础 | 第45-48页 |
| 4.2 两端为弧形的微磁单元高频磁性能 | 第48-49页 |
| 4.2.1 模拟的参数 | 第48页 |
| 4.2.2 模拟的磁谱曲线 | 第48-49页 |
| 4.3 倒“I”型微磁单元高频磁性能 | 第49-51页 |
| 4.3.1 模拟的参数 | 第49-50页 |
| 4.3.2 模拟的磁谱曲线 | 第50-51页 |
| 4.4 添加裂缝的微磁单元高频磁性能 | 第51-55页 |
| 4.4.1 模拟的参数 | 第51-52页 |
| 4.4.2 计算的磁谱及共振峰的对应区域 | 第52-55页 |
| 4.5 小结 | 第55-57页 |
| 第五章 全文的总结及展望 | 第57-59页 |
| 5.1 全文的总结 | 第57-58页 |
| 5.2 展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-65页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第65-66页 |
