| 摘要 | 第3-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题研究的目的和意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外高压电机定子绕组局部放电指纹库建立方法研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外高压电机定子绕组局部放电模式识别方法研究现状 | 第11-14页 |
| 1.4 本文的研究目标及主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 高压电机定子绕组老化局部放电机理及试验模型的建立 | 第16-36页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 电极系统制作 | 第16-18页 |
| 2.2.1 国内外电极系统研究现状 | 第17页 |
| 2.2.2 宽度可调定子铁芯槽模型设计 | 第17-18页 |
| 2.3 内部放电机理及放电模型建立 | 第18-21页 |
| 2.3.1 内部放电发生原因及危害 | 第19-20页 |
| 2.3.2 内部放电机理 | 第20页 |
| 2.3.3 内部放电模型设计方法 | 第20-21页 |
| 2.4 槽放电机理及放电模型建立 | 第21-27页 |
| 2.4.1 槽放电发生原因及危害 | 第21-22页 |
| 2.4.2 槽放电机理 | 第22-24页 |
| 2.4.3 槽放电模型设计方法 | 第24-27页 |
| 2.5 电晕放电机理及放电模型建立 | 第27-31页 |
| 2.5.1 电晕放电发生原因及危害 | 第27-28页 |
| 2.5.2 电晕放电机理 | 第28-30页 |
| 2.5.3 电晕放电模型设计方法 | 第30-31页 |
| 2.6 相间放电机理及放电模型建立 | 第31-34页 |
| 2.6.1 相间放电发生原因及危害 | 第31-32页 |
| 2.6.2 相间放电机理 | 第32-34页 |
| 2.6.3 相间放电模型设计方法 | 第34页 |
| 2.7 本章小结 | 第34-36页 |
| 第三章 高压电机定子绕组老化局部放电信号提取试验及放电指纹分布规律 | 第36-64页 |
| 3.1 引言 | 第36页 |
| 3.2 局部放电提取试验系统 | 第36-37页 |
| 3.3 内部放电信号提取试验及指纹分布 | 第37-40页 |
| 3.3.1 绕组老化内部放电试验 | 第37页 |
| 3.3.2 内部放电指纹提取及指纹分布 | 第37-40页 |
| 3.4 槽放电信号提取试验及指纹分布规律 | 第40-47页 |
| 3.4.1 不同磨损程度下绕组老化槽放电 | 第41-42页 |
| 3.4.2 绕组老化槽放电指纹提取及指纹分布规律 | 第42-47页 |
| 3.5 电晕放电信号提取试验及指纹分布规律 | 第47-58页 |
| 3.5.1 不同外界环境下电晕放电 | 第47-48页 |
| 3.5.2 电晕放电指纹 | 第48-55页 |
| 3.5.3 电晕放电指纹分布规律 | 第55-58页 |
| 3.6 相间放电信号提取试验及指纹分布规律 | 第58-62页 |
| 3.6.1 绕组老化相间放电试验 | 第59页 |
| 3.6.2 相间放电指纹提取及指纹分布规律 | 第59-62页 |
| 3.7 本章小结 | 第62-64页 |
| 第四章 高压电机主绝缘局部放电模式识别方法的研究 | 第64-80页 |
| 4.1 引言 | 第64页 |
| 4.2 BP神经网络结构及算法描述 | 第64-66页 |
| 4.3 高压电机主绝缘局部放电信号特征值 | 第66-70页 |
| 4.3.1 局部放电特征值选取 | 第66页 |
| 4.3.2 局部放电特征值计算 | 第66-67页 |
| 4.3.3 局部放电特征值可行性验证 | 第67-70页 |
| 4.4 BP神经网络在高压电机主绝缘局部放电信号识别中的应用 | 第70-75页 |
| 4.4.1 LabVIEW简介 | 第70-71页 |
| 4.4.2 局部放电指纹提取程序 | 第71-74页 |
| 4.4.3 BP神经网络识别程序 | 第74-75页 |
| 4.5 系统实现 | 第75-79页 |
| 4.6 本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 结论与展望 | 第80-84页 |
| 5.1 结论 | 第80-81页 |
| 5.2 展望 | 第81-84页 |
| 参考文献 | 第84-90页 |
| 附录 | 第90-102页 |
| 致谢 | 第102-104页 |
| 作者在攻读硕士学位期间的研究成果 | 第104-105页 |
