| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| 1.1 引言 | 第12页 |
| 1.2 导电机理 | 第12-15页 |
| 1.2.1 基本理论 | 第13-14页 |
| 1.2.2 双肖特基势垒的形成 | 第14-15页 |
| 1.3 ZnO压敏陶瓷伏安特性 | 第15-16页 |
| 1.4 ZnO压敏电阻的主要电学性能参数 | 第16-17页 |
| 1.5 常用添加剂的作用 | 第17-18页 |
| 1.6 本论文的研究内容及方法 | 第18-19页 |
| 第二章 正电子湮没技术基本原理 | 第19-29页 |
| 2.1 引言 | 第19页 |
| 2.2 正电子和正电子湮没 | 第19-21页 |
| 2.2.1 狄拉克理论 | 第19-20页 |
| 2.2.2 安德森发现正电子 | 第20页 |
| 2.2.3 正电子的性质 | 第20-21页 |
| 2.3 正电子湮没实验 | 第21-25页 |
| 2.3.1 正电子源e~+的产生 | 第21-22页 |
| 2.3.2 正电子湮没寿命谱仪 | 第22-23页 |
| 2.3.3 在半导体中的应用 | 第23-25页 |
| 2.4 霍尔效应 | 第25-29页 |
| 2.4.1 前景 | 第25页 |
| 2.4.2 原理 | 第25-28页 |
| 2.4.3 霍尔效应引起的副效应 | 第28页 |
| 2.4.4 不等电势效应引起的电势差 | 第28-29页 |
| 第三章 ZnO压敏陶瓷实验制备 | 第29-35页 |
| 3.1 引言 | 第29页 |
| 3.2 实验设备 | 第29页 |
| 3.3 制备流程 | 第29-31页 |
| 3.4 实验配方 | 第31-33页 |
| 3.4.1 ZnO-Nb_2O_5导电陶瓷的实验配方 | 第31页 |
| 3.4.2 Bi_2O_3-B_2O_3等导电陶瓷的实验配方 | 第31-32页 |
| 3.4.3 ZnO压敏陶瓷的实验配方 | 第32-33页 |
| 3.5 样品的温度曲线 | 第33页 |
| 3.6 样品电性能与微结构测试 | 第33-35页 |
| 第四章 ZnO-Nb_2O_5导电陶瓷的微结构与电性能 | 第35-46页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 ZnO中掺杂不同摩尔比的Nb_2O_5 | 第35-39页 |
| 4.2.1 ZnO中掺杂不同摩尔比的Nb_2O_5SEM测试结果 | 第35-36页 |
| 4.2.2 ZnO中掺杂不同摩尔比的Nb_2O_5XRD测试结果 | 第36-39页 |
| 4.2.3 ZnO中掺杂不同摩尔比的Nb_2O_5的Hall测试 | 第39页 |
| 4.3. ZnO中掺杂2mol%的Nb_2O_5在不同温度下烧结 | 第39-42页 |
| 4.3.1 ZnO中掺杂2mol%的Nb_2O_5在不同温度下烧结的SEM图 | 第39-41页 |
| 4.3.2 ZnO中掺杂2mol%的Nb_2O_5在不同温度下烧结的XRD图 | 第41-42页 |
| 4.3.3 ZnO中掺杂2mol%的Nb_2O_5在不同温度下烧结的Hall测试结果 | 第42页 |
| 4.4 结果分析与讨论 | 第42-43页 |
| 4.5 Nb_2O_5掺杂对ZnO陶瓷正电子研究 | 第43-45页 |
| 4.5.1 实验结果 | 第43-45页 |
| 4.5.2 结果分析与讨论 | 第45页 |
| 4.6 小结 | 第45-46页 |
| 第五章 Bi_2O_3-B_2O_3等导电陶瓷的微结构和电性能 | 第46-57页 |
| 5.1 引言 | 第46页 |
| 5.2 Bi_2O_3中掺杂B_2O_3 | 第46-49页 |
| 5.2.1 Bi_2O_3-B_2O_3半导体样品XRD测试结果 | 第46-48页 |
| 5.2.2 Bi_2O_3-B_2O_3半导体Hall测试结果 | 第48-49页 |
| 5.3 B_2O_3掺杂对Bi_2O_3陶瓷正电子湮没寿命谱研究 | 第49-51页 |
| 5.3.1 实验结果 | 第50-51页 |
| 5.3.2 结果分析与讨论 | 第51页 |
| 5.4 Bi_2O_3中掺杂MoO_3 | 第51-56页 |
| 5.4.1 Bi_2O_3-MoO_3半导体SEM测试结果 | 第52-53页 |
| 5.4.2 Bi_2O_3-MoO_3半导体XRD测试结果 | 第53-54页 |
| 5.4.3 Bi_2O_3-MoO_3半导体Hall测试结果 | 第54-56页 |
| 5.5 小结 | 第56-57页 |
| 第六章 ZnO-Bi_2O_3基压敏陶瓷的微结构与电性能 | 第57-63页 |
| 6.1 引言 | 第57-58页 |
| 6.2 半导化的ZnO-Nb_2O_5与半导化的Bi_2O_3-PbO混合烧结 | 第58-61页 |
| 6.2.1 电性能测试结果 | 第58-59页 |
| 6.2.2 XRD测试结果 | 第59-60页 |
| 6.2.3 结果分析与讨论 | 第60-61页 |
| 6.3 ZnO-Bi_2O_3基压敏电阻器测试结果 | 第61-62页 |
| 6.3.1 电性能测试结果 | 第61页 |
| 6.3.2 结果分析与讨论 | 第61-62页 |
| 6.4 小结 | 第62-63页 |
| 第七章 总结 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读硕士期间发表的学位论文目录 | 第71页 |
