便携式局部放电检测仪的设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·研究的背景及意义 | 第9-10页 |
| ·局部放电检测技术的现状和发展 | 第10-18页 |
| ·局部放电检测技术研究现状 | 第11-15页 |
| ·局部放电检测技术的发展 | 第15-18页 |
| ·本文的主要工作 | 第18-19页 |
| 第二章 局部放电的机理 | 第19-25页 |
| ·局部放电的原因及其破坏 | 第19-20页 |
| ·局部放电的分类 | 第20-25页 |
| ·介质内部的局部放电 | 第20-22页 |
| ·表面局部放电 | 第22-23页 |
| ·电晕放电 | 第23-25页 |
| 第三章 锁相放大技术的基本原理 | 第25-39页 |
| ·锁相放大技术概述 | 第25页 |
| ·锁相放大器的工作原理 | 第25-34页 |
| ·模拟乘法器型相敏检测器 | 第26-32页 |
| ·电子开关型相敏检测 | 第32-34页 |
| ·锁相放大器的基本组成 | 第34-36页 |
| ·信号通道 | 第34-35页 |
| ·参考通道 | 第35页 |
| ·低通滤波器 | 第35-36页 |
| ·锁相放大器的主要性能指标 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 第四章 便携式局放检测仪硬件电路设计 | 第39-57页 |
| ·天线探头模块 | 第39-41页 |
| ·工作原理 | 第39-40页 |
| ·选用与测试 | 第40-41页 |
| ·射频前端检波模块 | 第41-47页 |
| ·对数检波芯片AD8313 | 第42-45页 |
| ·基于AD8009 放大器件的电路设计 | 第45页 |
| ·具体实现方案 | 第45-46页 |
| ·制作时需要考虑的因数 | 第46页 |
| ·设计结果 | 第46-47页 |
| ·参考信号输入模块 | 第47-49页 |
| ·锁相放大电路模块 | 第49-53页 |
| ·基于AD630 系列器件的电路设计 | 第50-51页 |
| ·LPF 的设计 | 第51-53页 |
| ·电源模块 | 第53-54页 |
| ·射频前端检波电路电源设计 | 第53页 |
| ·参考信号输入电路电源设计 | 第53-54页 |
| ·AD630 锁相放大电路电源设计 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-57页 |
| 第五章 便携式局放检测仪硬件电路测试 | 第57-67页 |
| ·电源模块测试 | 第57-59页 |
| ·射频前端检波电路电源测试 | 第57页 |
| ·参考信号输入电路电源测试 | 第57-58页 |
| ·AD630 锁相放大电路电源测试 | 第58-59页 |
| ·锁相放大电路模块调试 | 第59-63页 |
| ·前端运算放大器OP07C 芯片的调试 | 第59-60页 |
| ·AD630 锁相放大芯片的调试 | 第60-62页 |
| ·后端积分滤波电路的调试 | 第62-63页 |
| ·锁相放大电路系统测试结果 | 第63-66页 |
| ·单边带正弦调制信号的形成 | 第63-64页 |
| ·未加噪声的待检测信号测试 | 第64页 |
| ·加噪声的待检测信号测试 | 第64-65页 |
| ·锁相放大电路测试结果分析 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第六章 结束语 | 第67-69页 |
| ·全文总结 | 第67页 |
| ·未来工作展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 研究成果 | 第75-76页 |
