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PLD方法制备ZnO薄膜及其结构和光学性能分析

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 引言第8-12页
    1.1 ZnO材料及激光脉冲沉积方法第8-9页
    1.2 国内外研究现状第9-11页
    1.3 本人所作的工作第11-12页
2 实验过程与薄膜测试第12-16页
    2.1 脉冲激光沉积系统第12-13页
    2.2 衬底的选择与样品预处理第13-14页
    2.3 生长过程第14-15页
    2.4 样品测试第15-16页
3 ZnO薄膜的晶体结构和光学性能研究第16-34页
    3.1 不同温度下的ZnO薄膜第16-20页
        3.1.1 XRD分析第16-19页
        3.1.2 荧光谱分析第19-20页
    3.2 不同频率下的ZnO薄膜第20-22页
        3.2.1 XRD分析第20-21页
        3.2.2 荧光谱的分析第21-22页
    3.3 不同氧压下的ZnO薄膜第22-26页
        3.3.1 XRD分析第22-24页
        3.3.2 荧光谱分析第24-25页
        3.3.3 ZnO薄膜发光机理第25-26页
    3.4 电子探针对有氧和无氧ZnO薄膜的成分分析第26页
    3.5 AFM形貌分析第26-27页
    3.6 用台阶仪测量薄膜厚度第27页
    3.7 RHEED原位检测第27-29页
    3.8 SEM形貌分析第29页
    3.9 与热氧化法制备ZnO薄膜的比较第29-34页
        3.9.1 形貌比较第29-30页
        3.9.2 晶体结构的比较第30-31页
        3.9.3 荧光光谱的比较第31-33页
        3.9.4 两种方法发光机理讨论第33-34页
结论第34-36页
参考文献第36-40页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第40-42页
致谢第42-43页
大连理工大学学位论文版权使用授权书第43页

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