| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 前言 | 第10-26页 |
| 1.1 汞元素定量检测方法 | 第10-15页 |
| 1.1.1 分子光谱法 | 第11页 |
| 1.1.2 原子光谱法 | 第11-14页 |
| 1.1.3 质谱法 | 第14页 |
| 1.1.4 电化学分析方法 | 第14-15页 |
| 1.2 汞形态分析方法 | 第15-19页 |
| 1.2.1 色谱法 | 第15-18页 |
| 1.2.2 非色谱法 | 第18-19页 |
| 1.3 汞形态分析中样品分离富集方法 | 第19-22页 |
| 1.3.1 固相萃取技术 | 第20-21页 |
| 1.3.2 液液萃取技术 | 第21-22页 |
| 1.4 八面体低聚倍半硅氧烷 | 第22-25页 |
| 1.4.1 八面体低聚倍半硅氧烷简介 | 第22-23页 |
| 1.4.2 八面体低聚倍半硅氧烷的应用 | 第23-24页 |
| 1.4.3 八巯丙基倍半硅氧烷及其应用 | 第24-25页 |
| 1.5 论文选题思路及研究内容 | 第25-26页 |
| 第2章 硅氧烷功能材料用于汞分离富集及其形态分析的研究 | 第26-53页 |
| 2.1 引言 | 第26-27页 |
| 2.2 实验部分 | 第27-30页 |
| 2.2.1 仪器装置 | 第27页 |
| 2.2.2 试剂及溶液配制 | 第27-28页 |
| 2.2.3 POSS-SH的制备 | 第28-29页 |
| 2.2.4 POSS-SH的表征 | 第29页 |
| 2.2.5 实验步骤 | 第29-30页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第30-47页 |
| 2.3.1 POSS-SH的表征结果 | 第30-32页 |
| 2.3.2 仪器条件优化 | 第32-37页 |
| 2.3.3 化学条件优化 | 第37-43页 |
| 2.3.4 POSS-SH对无机汞和甲基汞吸附容量的测定 | 第43-45页 |
| 2.3.5 方法定量依据 | 第45-46页 |
| 2.3.6 干扰离子 | 第46-47页 |
| 2.3.7 最佳实验条件 | 第47页 |
| 2.4 方法分析性能 | 第47-51页 |
| 2.4.1 标准曲线 | 第47-49页 |
| 2.4.2 富集倍数 | 第49页 |
| 2.4.3 精密度 | 第49页 |
| 2.4.4 检出限 | 第49-50页 |
| 2.4.5 方法分析性能总结 | 第50-51页 |
| 2.4.6 与其他分析方法比较 | 第51页 |
| 2.5 标准物质及实际样品的测定 | 第51-53页 |
| 2.5.1 标准物质的测定 | 第51-52页 |
| 2.5.2 实际样品的测定 | 第52-53页 |
| 第3章 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-66页 |
| 致谢 | 第66-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文情况 | 第68页 |