反射分量分离结合像素填补的高光抑制方法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 研究意义 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3.1 高光抑制软件方法现状 | 第12-13页 |
| 1.3.2 高光抑制硬件方法现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要的研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 实验总体方案设计 | 第15-27页 |
| 2.1 结构光三维测量方法简介 | 第15-17页 |
| 2.1.1 结构光三维测量原理 | 第15-16页 |
| 2.1.2 结构光三维测量模型 | 第16-17页 |
| 2.2 实验系统 | 第17-20页 |
| 2.2.1 实验环境 | 第17-19页 |
| 2.2.2 编码光选取 | 第19-20页 |
| 2.3 结构光测量系统的标定 | 第20-26页 |
| 2.3.1 摄像机的标定 | 第20-22页 |
| 2.3.2 投影仪的标定 | 第22-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 高光抑制 | 第27-41页 |
| 3.1 双色反射模型 | 第27-29页 |
| 3.1.1 图像信息 | 第27页 |
| 3.1.2 图像色度 | 第27-28页 |
| 3.1.3 图像归一化 | 第28-29页 |
| 3.2 反射分量分离 | 第29-33页 |
| 3.2.1 像素分离理论 | 第29-31页 |
| 3.2.2 颜色补偿 | 第31-33页 |
| 3.3 高光像素的去除 | 第33-37页 |
| 3.3.1 强反射像素的提取 | 第33-34页 |
| 3.3.2 强反射抑制 | 第34-36页 |
| 3.3.3 高光像素去除实验 | 第36-37页 |
| 3.4 图像填补理论 | 第37-40页 |
| 3.4.1 像素优先级计算 | 第38-39页 |
| 3.4.2 像素填补 | 第39-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 实验结果与数据统计 | 第41-49页 |
| 4.1 高光抑制实验 | 第41-45页 |
| 4.2 实验数据提取分析 | 第45-47页 |
| 4.3 本章小结 | 第47-49页 |
| 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-53页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54页 |
