| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-25页 |
| ·引言 | 第10页 |
| ·课题背景 | 第10-16页 |
| ·尘土对电接触可靠性影响研究概况 | 第11-13页 |
| ·尘土进入电子/电器设备研究概况 | 第13-16页 |
| ·立题依据 | 第16-18页 |
| ·主要内容 | 第18-21页 |
| 参考文献 | 第21-25页 |
| 第二章 外界气流及电子/电器设备的密封结构对尘土进入影响研究 | 第25-41页 |
| ·尘土在气流中的运动分析 | 第25-27页 |
| ·手机密封结构测绘 | 第27-29页 |
| ·在气流作用下尘土通过密封口进入手机有限元模拟 | 第29-34页 |
| ·有限元建模 | 第29-30页 |
| ·仿真结果及分析 | 第30-34页 |
| ·实际手机内部尘土分布 | 第34-37页 |
| ·小结 | 第37-39页 |
| 参考文献 | 第39-41页 |
| 第三章 外界动态环境对尘土进入影响研究 | 第41-57页 |
| ·振动模式对尘土进入影响 | 第41-43页 |
| ·受控正弦定频振动条件下振动频率对尘土进入影响研究 | 第43-47页 |
| ·实验步骤 | 第43页 |
| ·实验结果 | 第43-45页 |
| ·分析及讨论 | 第45-47页 |
| ·受控正弦定频振动条件下振动时间对尘土进入影响研究 | 第47-55页 |
| ·实验步骤 | 第47-48页 |
| ·实验结果 | 第48-54页 |
| ·分析及讨论 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第四章 电子/电器设备电场及热场对尘土进入影响研究 | 第57-69页 |
| ·尘土颗粒的带电特性 | 第57-58页 |
| ·电子/电器设备对空气中尘土的吸附影响研究 | 第58-65页 |
| ·有限元建模 | 第58-59页 |
| ·仿真结果及分析 | 第59-61页 |
| ·手机表面尘土沉积实验 | 第61-62页 |
| ·实验结果方差分析 | 第62-65页 |
| ·电场力不可忽略的极限条件 | 第65页 |
| ·电子/电器设备热场对尘土进入影响研究 | 第65-67页 |
| ·温度载荷作用 | 第65-66页 |
| ·热场与外界风速载荷耦合作用 | 第66-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-69页 |
| 第五章 尘土进入电子/电器设备实验模拟系统研究 | 第69-93页 |
| ·尘土进入电子/电器设备各影响因素相关性分析 | 第69-70页 |
| ·尘土进入电子/电器设备实验模拟系统方案设计 | 第70-71页 |
| ·尘土进入电子/电器设备实验模拟系统设计参数 | 第71-72页 |
| ·尘土循环/回收子系统方案设计 | 第72-87页 |
| ·实验箱几何尺寸的初步设定 | 第72页 |
| ·实验箱内部流场分析 | 第72-79页 |
| ·实验箱内部尘土颗粒循环效率分析 | 第79-87页 |
| ·振动载物台子系统方案设计 | 第87-88页 |
| ·振动激励信号选取 | 第87-88页 |
| ·振动台方案设计 | 第88页 |
| ·控制子系统方案设计 | 第88-89页 |
| ·尘土密度传感器 | 第88-89页 |
| ·气体流速传感器 | 第89页 |
| ·小结 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-93页 |
| 第六章 尘土对电接触影响可靠性理论及测试方法研究 | 第93-105页 |
| ·尘土对电接触影响的系统模型研究 | 第93-94页 |
| ·尘土存在条件下电接触失效判据体系 | 第94-95页 |
| ·正常室内环境下由于尘土引起的电接触失效概率研究 | 第95-100页 |
| ·定义失效判据 | 第95页 |
| ·接触失效与时间关系回归分析 | 第95-98页 |
| ·接触失效与尘土沉积密度关系回归分析 | 第98-100页 |
| ·分析及讨论 | 第100页 |
| ·尘土存在条件下电连接器失效寿命概率密度模型 | 第100-103页 |
| ·小结 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-105页 |
| 第七章 结论和展望 | 第105-109页 |
| ·全文总结 | 第105-108页 |
| ·展望 | 第108-109页 |
| 附录 手机电场有限元分析命令流 | 第109-111页 |
| 致谢 | 第111-112页 |
| 作者攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第112页 |
