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基于TOC理论与OEE指标的生产电子看板开发

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 绪论第8-13页
    1.1 课题提出背景第8-9页
    1.2 电子看板开发现状第9-10页
    1.3 研究意义第10页
    1.4 课题设计思路第10-11页
    1.5 主要研究内容及工作第11-13页
第二章 基于TOC与OEE的产线模型研究第13-21页
    2.1 TOC理论研究综述第13-14页
    2.2 TOC的生产控制第14-15页
    2.3 OEE指标及设备效率损失第15-18页
        2.3.1 OEE概念及计算第15-16页
        2.3.2 OEE与6大损失第16-18页
    2.4 基于TOC和OEE的改善流程设计第18-21页
第三章 方案可行性验证与分析第21-34页
    3.1 对象工厂介绍第21-22页
        3.1.1 工厂简介第21-22页
        3.1.2 生产流程第22页
    3.2 瓶颈工序人工统计分析第22-24页
    3.3 瓶颈设备OEE损失分析第24-29页
        3.3.1 OEE数据导入流程第24-27页
        3.3.2 OEE数据手工计算第27-28页
        3.3.3 OEE损失分析第28-29页
    3.4 改善措施及效果对比第29-32页
        3.4.1 设备待料改善第29-30页
        3.4.2 设备性能损失及设备故障改善第30-31页
        3.4.3 改善效果对比第31-32页
    3.5 方案分析及改进第32-34页
        3.5.1 方案实施的优点及不足第32页
        3.5.2 电子看板系统第32-34页
第四章 电子看板系统硬件方案第34-45页
    4.1 系统硬件方案第34页
    4.2 工业以太网的应用第34-35页
    4.3 电子看板系统硬件模块第35-39页
        4.3.1 WAGO750-881介绍第35-36页
        4.3.2 WAGO模块硬件组成第36-39页
    4.4 设备数据采集与储存第39-41页
        4.4.1 RFID射频识别第39-40页
        4.4.2 WAGO数据采集第40-41页
    4.5 数据接口设计第41-45页
        4.5.1 信号量的表示第41页
        4.5.2 通讯协议和通讯函数第41-42页
        4.5.3 通讯实现方法第42-45页
第五章 电子看板系统组态软件设计第45-56页
    5.1 电子看板开发环境第45页
    5.2 组态开发思路与编程流程图第45-48页
        5.2.1 组态开发思路第45-46页
        5.2.2 组态编程流程图第46-48页
    5.3 组态面板设计第48-52页
        5.3.1 组态系统设计规划第48-49页
        5.3.2 生产瓶颈分析模块第49-50页
        5.3.3 OEE损失分析模块第50-51页
        5.3.4 整体界面第51-52页
    5.4 组态稳定性测试第52-56页
第六章 结论与展望第56-57页
参考文献第57-59页
致谢第59-60页
读硕士期间公开发表的学术论文第60页

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