| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-34页 |
| 1.1 压电材料概述 | 第9-16页 |
| 1.1.1 压电性与晶体结构 | 第9页 |
| 1.1.2 铁电体与电畴 | 第9-16页 |
| 1.2 压电陶瓷 | 第16-19页 |
| 1.2.1 压电陶瓷材料概述 | 第16-17页 |
| 1.2.2 无铅压电陶瓷的研究进展 | 第17-19页 |
| 1.3 KNN基无铅压电陶瓷的研究现状 | 第19-31页 |
| 1.3.1 KNN基陶瓷材料压电性能的研究进展 | 第20-22页 |
| 1.3.2 KNN基陶瓷的烧结性能的改进 | 第22-23页 |
| 1.3.3 KNN基陶瓷的温度稳定性的改善 | 第23-25页 |
| 1.3.4 准同型相界和多晶型相界机理的研究 | 第25-31页 |
| 1.4 本论文的主要研究内容及创新点 | 第31-34页 |
| 1.4.1 研究目的及意义 | 第31-32页 |
| 1.4.2 主要内容 | 第32页 |
| 1.4.3 本论文的创新点 | 第32-34页 |
| 第2章 线性组合规则在KNN基陶瓷体系中的应用 | 第34-51页 |
| 2.1 引言 | 第34-36页 |
| 2.2 线性组合规则在KNN-LTS体系中的研究 | 第36-41页 |
| 2.2.1 相图的构建 | 第36-37页 |
| 2.2.2 线性组合规则在NN?KN?LT?NT四元相图的验证 | 第37-38页 |
| 2.2.3 线性组合规则在NN?KN?LS?NT四元相图的验证 | 第38-39页 |
| 2.2.4 线性组合规则在NN?KN?LT?LS?NT五元相图的验证 | 第39-40页 |
| 2.2.5 线性组合规则寻找NN?KN?LT?LS?NT?NS六元体系的PPT组分 | 第40-41页 |
| 2.3 实验流程和表征方法 | 第41-42页 |
| 2.4 实验结果与讨论 | 第42-49页 |
| 2.4.1 陶瓷样品的晶体结构分析 | 第42-45页 |
| 2.4.2 陶瓷样品的显微结构分析 | 第45-46页 |
| 2.4.3 陶瓷样品的化学成分分析 | 第46页 |
| 2.4.4 陶瓷样品的电学性能分析 | 第46-49页 |
| 2.5 理论分析 | 第49-50页 |
| 2.6 小结 | 第50-51页 |
| 第3章 KNN-LTS陶瓷的低温烧结和电畴结构表征 | 第51-76页 |
| 3.1 引言 | 第51-52页 |
| 3.2 实验流程和表征方法 | 第52-53页 |
| 3.3 实验结果与讨论 | 第53-64页 |
| 3.3.1 粉体的形貌表征 | 第53-54页 |
| 3.3.2 粉体的烧结特性 | 第54-55页 |
| 3.3.3 纳米粉体和固相法粉体烧结陶瓷的显微形貌和晶体结构 | 第55-59页 |
| 3.3.4 纳米粉体和固相法粉体烧结陶瓷的电学性能比较 | 第59-62页 |
| 3.3.5 纳米粉体和固相法粉体烧结陶瓷的压电性能温度稳定性的研究 | 第62-64页 |
| 3.4 纳米粉体和固相法粉体烧结陶瓷的电畴结构分析 | 第64-70页 |
| 3.4.1 纳米粉体和固相法粉体烧结陶瓷压电性能对比 | 第64-65页 |
| 3.4.2 纳米粉体和固相法粉体烧结陶瓷电畴结构分析 | 第65-68页 |
| 3.4.3 机理分析 | 第68-70页 |
| 3.5 极化温度对KNN基陶瓷电畴结构和压电性能的影响 | 第70-75页 |
| 3.5.1 不同极化温度下KNN基陶瓷的电学性能 | 第70-71页 |
| 3.5.2 不同极化温度下KNN基陶瓷的内应力分析 | 第71-72页 |
| 3.5.3 不同极化温度下KNN基陶瓷的电畴结构分析 | 第72-75页 |
| 3.6 小结 | 第75-76页 |
| 第4章 PPT相界区间B位离子位移对电学性能的影响 | 第76-86页 |
| 4.1 引言 | 第76-77页 |
| 4.2 实验流程和表征方法 | 第77-78页 |
| 4.3 实验结果与讨论 | 第78-84页 |
| 4.3.1 不同Sb含量陶瓷的晶体结构和显微结构分析 | 第78-80页 |
| 4.3.2 不同Sb含量陶瓷的电学性能 | 第80-81页 |
| 4.3.3 不同Sb含量陶瓷的EXAFS图谱 | 第81-84页 |
| 4.4 小结 | 第84-86页 |
| 第5章 PPT相界区间的电畴结构与性能之间的关系 | 第86-114页 |
| 5.1 引言 | 第86-87页 |
| 5.2 实验流程和表征方法 | 第87-90页 |
| 5.3 实验结果与分析 | 第90-112页 |
| 5.3.1 不同Ta含量陶瓷的晶体结构和显微结构分析 | 第90-94页 |
| 5.3.2 不同Ta含量陶瓷的电畴结构分析 | 第94-101页 |
| 5.3.3 不同Ta含量陶瓷的Rayleigh测试及电畴平移运动分析 | 第101-105页 |
| 5.3.4 不同Ta含量陶瓷的高场下的机电性能与电畴翻转运动的关系 | 第105-112页 |
| 5.4 小结 | 第112-114页 |
| 第6章 总结 | 第114-116页 |
| 参考文献 | 第116-131页 |
| 致谢 | 第131-133页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第133-135页 |
