| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 太赫兹技术 | 第8-18页 |
| 1.1 太赫兹波简介 | 第8页 |
| 1.2 太赫兹波的典型应用 | 第8-11页 |
| 1.3 太赫兹基础研究领域 | 第11-15页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 参考文献 | 第17-18页 |
| 第2章 高温超导直接检测器频谱检测的实现 | 第18-28页 |
| 2.1 太赫兹频谱检测的分类 | 第18-19页 |
| 2.2 衡量太赫兹检测器性能的主要指标 | 第19-21页 |
| 2.3 约瑟夫森效应相关概念 | 第21-24页 |
| 2.4 约瑟夫森双晶结的电流响应和频谱的测量与恢复 | 第24-27页 |
| 2.4.1 约瑟夫森双晶结的电流响应 | 第24页 |
| 2.4.2 频谱的测量与频谱恢复 | 第24-27页 |
| 参考文献 | 第27-28页 |
| 第3章 系统设计与器件优化 | 第28-46页 |
| 3.1 系统设计方案 | 第28-29页 |
| 3.2 高温超导双晶结的制备 | 第29-39页 |
| 3.2.1 选择双晶衬底基片 | 第29-30页 |
| 3.2.2 超导薄膜的R-T测试 | 第30-33页 |
| 3.2.3 制备YBa_2Cu_3O_(7-δ)双晶结 | 第33-37页 |
| 3.2.4 制备工艺中的关键技术 | 第37-39页 |
| 3.3 低温系统 | 第39-40页 |
| 3.3.1 GM制冷机 | 第39页 |
| 3.3.2 液氦/液氮杜瓦制冷系统 | 第39-40页 |
| 3.4 太赫兹信号的耦合设计 | 第40-41页 |
| 3.5 读出电路系统 | 第41-43页 |
| 3.6 基于LABVIEW程序的计算机处理系统 | 第43-45页 |
| 参考文献 | 第45-46页 |
| 第4章 频谱测量与特性分析 | 第46-56页 |
| 4.1 对多个源的频谱测量结果 | 第46-49页 |
| 4.2 高温超导直接检测器工作特性研究 | 第49-55页 |
| 4.2.1 工作温度对超导双晶结I-V特性的影响 | 第49-50页 |
| 4.2.2 检测器的频谱带宽 | 第50-55页 |
| 参考文献 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |