| 中文摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1、核辐射探测 | 第13-14页 |
| 1.1.1、闪烁体 | 第13-14页 |
| 1.1.2、半导体材料 | 第14页 |
| 1.2、核辐射成像 | 第14-17页 |
| 1.2.1、CCD | 第14-16页 |
| 1.2.2、CMOS | 第16-17页 |
| 1.3、碲锌镉探测器 | 第17-18页 |
| 1.4、本文研究内容 | 第18-21页 |
| 第2章 TOPMETAL-Ⅰ芯片和TOPMETAL-Ⅱ~-芯片 | 第21-50页 |
| 2.1、TOPMETAL-Ⅰ的原理和信号特性 | 第21-26页 |
| 2.1.1、芯片介绍 | 第21-23页 |
| 2.1.2、单个像素结构模型 | 第23-24页 |
| 2.1.3、节点电容 | 第24-26页 |
| 2.2、TOPMETAL-Ⅰ芯片性能 | 第26-31页 |
| 2.2.1、功能验证 | 第26-29页 |
| 2.2.2、噪声 | 第29-31页 |
| 2.3、TOPMETAL-Ⅱ~-原理 | 第31-33页 |
| 2.3.1、Topmetal-Ⅱ~-芯片 | 第31-32页 |
| 2.3.2、单个像素结构 | 第32-33页 |
| 2.4、 TOPMETAL-Ⅱ~-芯片的常温性能研究 | 第33-43页 |
| 2.4.1、芯片功能 | 第34-36页 |
| 2.4.2、衰减时间常数 | 第36-37页 |
| 2.4.3、噪声测试 | 第37-39页 |
| 2.4.4、幅度的线性度和一致性 | 第39-42页 |
| 2.4.5、单个alpha粒子 | 第42-43页 |
| 2.5、 TOPMETAL-Ⅱ~-芯片的低温性能研究 | 第43-48页 |
| 2.5.1、衰减时间常数 | 第44-45页 |
| 2.5.2、噪声测试 | 第45-47页 |
| 2.5.3、幅度的线性度 | 第47-48页 |
| 2.6、本章小结 | 第48-50页 |
| 第3章 碲锌镉探测器及仿真 | 第50-58页 |
| 3.1、碲锌镉晶体 | 第50-53页 |
| 3.1.1、漂移与扩散 | 第50-51页 |
| 3.1.2、晶体参数 | 第51-53页 |
| 3.2、碲锌镉晶体仿真 | 第53-55页 |
| 3.3、电场仿真 | 第55-57页 |
| 3.4、本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 基于TOPMETAI-Ⅰ芯片的碲锌镉像素探测器的设计及性能研究 | 第58-68页 |
| 4.1、基于TOPMETAL-Ⅰ芯片的碲锌镉探测器的设计 | 第58-61页 |
| 4.1.1、信号感应 | 第58-59页 |
| 4.1.2、机械结构 | 第59页 |
| 4.1.3、方波电压 | 第59-61页 |
| 4.2、基于TOPMETAL-Ⅰ芯片碲锌镉晶体的性能研究 | 第61-67页 |
| 4.2.1、激光信号激励 | 第61-67页 |
| 4.2.2、电荷收集效率 | 第67页 |
| 4.3、本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 基于TOPMETAL-Ⅱ~-芯片的碲锌镉像素探测器的设计及性能研究 | 第68-80页 |
| 5.1、TOPMETAL-Ⅱ~-信号修正方法 | 第68-70页 |
| 5.2、基于TOPMETAL-Ⅱ~-芯片的碲锌镉探测器设计 | 第70-74页 |
| 5.2.1、单向导电胶 | 第70-72页 |
| 5.2.2、探测器结构 | 第72-74页 |
| 5.3、基于TOPMETAL-Ⅱ~-芯片的碲锌镉探测器性能 | 第74-78页 |
| 5.3.1、本底信号 | 第74-75页 |
| 5.3.2、激光信号成像 | 第75-77页 |
| 5.3.3、单个alpha粒子成像 | 第77-78页 |
| 5.4、本章小结 | 第78-80页 |
| 第6章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1、内容总结 | 第80-81页 |
| 6.2、展望 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-90页 |
| 附录A 实验相关图汇总 | 第90-96页 |
| 在校期间发表的论文、科研成果 | 第96-97页 |
| 致谢 | 第97页 |
