| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 第一章 引言 | 第12-21页 |
| 1.1 中微子的探索历史 | 第12-14页 |
| 1.2 中微子的一些振荡实验介绍 | 第14-17页 |
| 1.2.2 大气中微子实验 | 第15-16页 |
| 1.2.3 加速器中微子实验 | 第16页 |
| 1.2.4 反应堆中微子实验 | 第16-17页 |
| 1.3 江门中微子实验介绍 | 第17-19页 |
| 1.3.1 物理目标 | 第17-18页 |
| 1.3.2 实验探测原理 | 第18-19页 |
| 1.3.3 探测器简介 | 第19页 |
| 1.4 论文的研究内容和结构安排 | 第19-21页 |
| 1.4.1 论文的研究内容 | 第19-20页 |
| 1.4.2 论文的结构安排 | 第20-21页 |
| 第二章 光电倍增管(PMT)测试电缆表皮材料荧光 | 第21-30页 |
| 2.1 荧光发光原理 | 第21-22页 |
| 2.2 PMT的相关参数介绍 | 第22-23页 |
| 2.3 PMT的单光电子谱测及对应的幅度谱测试 | 第23-25页 |
| 2.3.1 测试系统 | 第23-24页 |
| 2.3.2 PMT单光电子谱测及对应的幅度谱测试结果 | 第24-25页 |
| 2.4 电缆表皮材料的荧光测试 | 第25-28页 |
| 2.4.1 用PMT测试电缆荧光的测试系统 | 第25-26页 |
| 2.4.2 测试结果及分析 | 第26-28页 |
| 2.5 改善方案测试方法 | 第28-30页 |
| 第三章 荧光光谱仪及材料荧光特性 | 第30-35页 |
| 3.1 日立f-7000荧光光谱仪介绍 | 第30页 |
| 3.1.1 日立f-7000荧光光谱仪相关参数介绍 | 第30页 |
| 3.1.2 日立f-7000荧光光谱仪相关参数选择 | 第30页 |
| 3.2 用荧光光谱仪FLS980测试电缆荧光 | 第30-33页 |
| 3.2.1 测量的电缆表皮材料 | 第30-31页 |
| 3.2.2 荧光光谱仪FLS980 | 第31-32页 |
| 3.2.3 积分球原理 | 第32-33页 |
| 3.3 材料荧光特性 | 第33-35页 |
| 3.3.1 发射光谱和激发光谱 | 第34页 |
| 3.3.2 荧光绝对量子产率 | 第34页 |
| 3.3.3 荧光寿命 | 第34-35页 |
| 第四章 用荧光光谱仪测试电缆表皮材料荧光的结果与分析 | 第35-43页 |
| 4.1 f-7000测试电缆荧光结果及分析 | 第35-38页 |
| 4.2 FLS980测试电缆荧光结果及分析 | 第38-42页 |
| 4.2.1 电缆荧光的激发光谱与发射光谱 | 第38-40页 |
| 4.2.2 电缆荧光的绝对量子产率 | 第40-41页 |
| 4.2.3 电缆荧光的寿命 | 第41-42页 |
| 4.3 小结 | 第42-43页 |
| 第五章 用北京谱仪Ⅲ(BESⅢ)及气体探测器介绍 | 第43-48页 |
| 5.1 BESⅢ的介绍 | 第43-45页 |
| 5.2 气体探测器介绍 | 第45-48页 |
| 5.2.1 主漂移室MDC简介 | 第45-46页 |
| 5.2.2 μ探测器介绍 | 第46页 |
| 5.2.3 BESⅢ TOF端盖升级飞行时间探测器(MRPC) | 第46-48页 |
| 第六章 BESⅢ气体探测器的气体分析研究 | 第48-55页 |
| 6.1 BESⅢ气体探测器的气体分析 | 第48-52页 |
| 6.1.1 气相色谱仪工作原理 | 第48-49页 |
| 6.1.2 色谱技术的发展和应用 | 第49-50页 |
| 6.1.3 检测器的工作原理 | 第50页 |
| 6.1.4 BESⅢ气体探测器气体分析 | 第50-52页 |
| 6.2 气体分析集成系统 | 第52-54页 |
| 6.2.1 序列和批量处理 | 第53页 |
| 6.2.2 气体分析集成系统稳定性测试 | 第53-54页 |
| 6.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 第七章 讨论与展望 | 第55-58页 |
| 7.1 江门中微子实验电子学电缆表皮材料的荧光研究的总结与展望 | 第55-57页 |
| 7.1.1 总结 | 第55-57页 |
| 7.1.2 展望 | 第57页 |
| 7.2 BESⅢ气体探测器的气体分析的总结与展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 硕士期间发表的论文情况 | 第63页 |
