| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 太赫兹辐射及其特性 | 第11-12页 |
| 1.2 太赫兹科学技术的应用 | 第12-13页 |
| 1.3 太赫兹技术的发展和研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 太赫兹探测器读出电路发展现状 | 第15-16页 |
| 1.5 论文主要工作和工作安排 | 第16-18页 |
| 1.5.1 选题依据 | 第16页 |
| 1.5.2 研究内容 | 第16-17页 |
| 1.5.3 工作安排 | 第17-18页 |
| 第二章 太赫兹辐射探测技术 | 第18-32页 |
| 2.1 太赫兹辐射探测技术基础 | 第18-23页 |
| 2.1.1 太赫兹超短脉冲的时域测量 | 第18-20页 |
| 2.1.1.1 光电导采样探测 | 第18-19页 |
| 2.1.1.2 电光采样探测 | 第19-20页 |
| 2.1.2 连续太赫兹辐射测量 | 第20-22页 |
| 2.1.2.1 相干检测方法 | 第20-21页 |
| 2.1.2.2 非相干检测方法 | 第21-22页 |
| 2.1.3 太赫兹探测器总括 | 第22-23页 |
| 2.2 热释电太赫兹探测原理 | 第23-29页 |
| 2.2.1 热释电效应概念 | 第23页 |
| 2.2.2 热释电材料选择 | 第23-24页 |
| 2.2.3 钽酸锂热释电太赫兹探测器探测理论分析 | 第24-29页 |
| 2.3 钽酸锂热释太赫兹电探测器探测模块结构设计 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 钽酸锂热释电太赫兹探测器读出电路设计 | 第32-56页 |
| 3.1 前置放大电路选择 | 第32-34页 |
| 3.2 高增益低噪声读出电路设计 | 第34-41页 |
| 3.2.1 电路结构和原理图 | 第34-38页 |
| 3.2.2 关键元件选择与参数分析 | 第38-40页 |
| 3.2.3 关键PCB设计和屏蔽措施 | 第40-41页 |
| 3.3 增益可调读出电路设计 | 第41-46页 |
| 3.3.1 增益自动可调模块设计 | 第41-43页 |
| 3.3.2 单片机模块设计 | 第43-46页 |
| 3.3.3 方案总结 | 第46页 |
| 3.4 探测器性能测试及结果分析 | 第46-55页 |
| 3.4.1 测试平台搭建 | 第46-47页 |
| 3.4.2 光电性能测量 | 第47-52页 |
| 3.4.2.1 探测器响应测试 | 第47页 |
| 3.4.2.2 探测能量范围响应测量 | 第47-50页 |
| 3.4.2.3 探测响应率 | 第50-51页 |
| 3.4.2.4 最大探测能量密度 | 第51-52页 |
| 3.4.2.5 探测波长范围 | 第52页 |
| 3.4.3 频率响应测量 | 第52-53页 |
| 3.4.4 响应线性度测量 | 第53-54页 |
| 3.4.5 其它性能测试 | 第54页 |
| 3.4.6 性能总结及对比 | 第54-55页 |
| 3.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 基于太赫兹探测器读出电路的热释电系数测量系统 | 第56-68页 |
| 4.1 热释电系数测量理论基础 | 第56页 |
| 4.2 热释电系数测量系统 | 第56-64页 |
| 4.2.1 热辐射装置 | 第57-58页 |
| 4.2.2 电流采集模块 | 第58页 |
| 4.2.3 温度采集硬件电路模块 | 第58-62页 |
| 4.2.3.1 K型热电偶测温原理 | 第58-59页 |
| 4.2.3.2 K型热电偶硬件电路及冷端补偿方式 | 第59-62页 |
| 4.2.4 单片机系程序及串口通信 | 第62-64页 |
| 4.2.5 上位机显示和存储 | 第64页 |
| 4.3 热释电系数测量及结果分析 | 第64-67页 |
| 4.3.1 测量平台搭建 | 第64-65页 |
| 4.3.2 测量结果 | 第65-66页 |
| 4.3.3 误差分析 | 第66-67页 |
| 4.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 结论与展望 | 第68-70页 |
| 5.1 结论 | 第68页 |
| 5.2 展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第75-76页 |