基于有限元的管状基体涂层厚度涡流法测量仿真研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·涡流测厚的国内外现状 | 第10-11页 |
| ·涡流仿真计算的国内外现状 | 第11-12页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第12-13页 |
| 第二章 涡流测厚相关理论及数值计算方法 | 第13-22页 |
| ·涡流测厚基本理论 | 第13-17页 |
| ·涡流测厚的原理 | 第13-16页 |
| ·涡流测厚的影响因素分析 | 第16-17页 |
| ·涡流测厚的趋肤效应 | 第17页 |
| ·涡流场数值计算的电磁场理论基础 | 第17-19页 |
| ·麦克斯韦方程组 | 第17-18页 |
| ·电磁场分析中的边界条件 | 第18-19页 |
| ·涡流场数值计算的数学模型 | 第19-21页 |
| ·涡流场数值计算的具体实现 | 第21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 管状基体涂层厚度涡流检测的三维有限元仿真 | 第22-43页 |
| ·有限元仿真的理论基础 | 第22-23页 |
| ·管状基体涂层厚度测量的三维建模及仿真分析 | 第23-29页 |
| ·参数化（APDL）几何建模 | 第23-26页 |
| ·网格划分 | 第26-27页 |
| ·定义边界条件 | 第27-28页 |
| ·施加载荷及求解 | 第28页 |
| ·后处理过程及分析 | 第28-29页 |
| ·涂层厚度涡流法测量的影响因素分析 | 第29-35页 |
| ·管状基体曲率变化对涡流信号的影响 | 第30-31页 |
| ·管状基体厚度对涡流信号的影响 | 第31-33页 |
| ·探头提离变化对涡流信号的影响 | 第33-35页 |
| ·有限元分析管状基体涂层厚度测量的可行性验证 | 第35-38页 |
| ·探头线圈尺寸对涡流探头性能的影响 | 第38-41页 |
| ·线圈匝数不变 | 第38-40页 |
| ·线圈匝数密度不变 | 第40-41页 |
| ·有限元仿真综合分析 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 涂层厚度涡流法测量的实验研究 | 第43-50页 |
| ·涡流测厚实验平台的搭建及试件的制作 | 第43-45页 |
| ·涂层测厚的步骤 | 第45-47页 |
| ·实验测量结果与仿真结果的对比分析 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 总结和展望 | 第50-52页 |
| ·本文完成的主要工作 | 第50页 |
| ·工作展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和研究成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
