Ba0.65Sr0.35TiO3薄膜的制备及其室温热释电俘能特性研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-23页 |
| ·铁电材料及其发展史 | 第9-11页 |
| ·铁电材料简介 | 第9-10页 |
| ·铁电材料的发展简史 | 第10-11页 |
| ·铁电薄膜概述 | 第11-15页 |
| ·铁电薄膜简介 | 第11页 |
| ·铁电薄膜的制备技术 | 第11-13页 |
| ·铁电薄膜的性质及应用 | 第13-15页 |
| ·热释电俘能的工作原理及材料性能评价标准 | 第15-18页 |
| ·热释电俘能器的工作原理 | 第15-18页 |
| ·热释电俘能材料的性能评价标准 | 第18页 |
| ·应用于热释电俘能的几种钙钛矿结构铁电薄膜材料 | 第18-19页 |
| ·BTO 系钙钛矿结构无铅铁电薄膜 | 第18-19页 |
| ·PZT 系钙钛矿结构铅基铁电薄膜 | 第19页 |
| ·铁电材料的改性方法 | 第19-20页 |
| ·本论文的选题依据和主要内容 | 第20-23页 |
| ·本文的选题依据 | 第20-21页 |
| ·本文的主要工作 | 第21-23页 |
| 第2章 BST 薄膜的制备工艺和分析测试方法 | 第23-30页 |
| ·BST 薄膜的制备工艺 | 第23-27页 |
| ·Sol-gel 法制备薄膜的基本原理 | 第23-24页 |
| ·Sol-gel 法制备薄膜的过程 | 第24页 |
| ·Sol-gel 法制备薄膜的设备和原料 | 第24-25页 |
| ·BST 前驱体溶液的配制 | 第25页 |
| ·BST 薄膜的形成 | 第25-27页 |
| ·微观结构分析测试方法 | 第27-28页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第27页 |
| ·扫描电子显微镜分析 | 第27-28页 |
| ·电学性能分析测试方法 | 第28-30页 |
| ·上电极的制备 | 第28页 |
| ·变温电滞回线的测试 | 第28-29页 |
| ·介电温谱的测试 | 第29页 |
| ·居里温度的测量 | 第29-30页 |
| 第3章 自缓冲层对 BST 薄膜生长的影响 | 第30-39页 |
| ·引言 | 第30页 |
| ·BST 缓冲层薄膜的制备 | 第30-32页 |
| ·BST 缓冲层薄膜的制备过程 | 第31页 |
| ·退火温度对 BST 缓冲层薄膜微结构的影响 | 第31-32页 |
| ·自缓冲层对 BST 薄膜性能的影响 | 第32-38页 |
| ·BST 主体层薄膜的制备过程 | 第32页 |
| ·自缓冲层对 BST 薄膜微结构的影响 | 第32-34页 |
| ·自缓冲层对 BST 薄膜电学性能的影响 | 第34-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 BST 薄膜室温热释电俘能特性的研究 | 第39-46页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·热释电俘能密度的计算方法 | 第39-42页 |
| ·自缓冲层对 BST 薄膜热释电俘能特性的影响 | 第42-44页 |
| ·外加电场对 BST 薄膜热释电俘能特性的影响 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 总结与展望 | 第46-48页 |
| ·论文总结 | 第46页 |
| ·研究展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 攻读硕士学位期间的论文发表情况 | 第56页 |
