| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-25页 |
| ·非球面检测技术的研究背景 | 第9-13页 |
| ·非球面检测技术的研究意义 | 第9-10页 |
| ·非球面检测技术研究的历史及现状 | 第10-13页 |
| ·非球面基本概念及常用检测方法 | 第13-22页 |
| ·非球面基本概念 | 第13-17页 |
| ·常用非球面检测方法 | 第17-22页 |
| ·本论文主要工作及创新点 | 第22-25页 |
| ·本文主要工作 | 第22-24页 |
| ·本文主要创新点 | 第24-25页 |
| 第二章 非球面环形子孔径拼接检测方法原理 | 第25-52页 |
| ·非球面子孔径拼接检测方法分类 | 第25-26页 |
| ·圆形子孔径拼接法 | 第25页 |
| ·环形子孔径拼接法 | 第25-26页 |
| ·非球面环形子孔径拼接检测方法原理 | 第26-52页 |
| ·非球面环形子孔径的划分 | 第27-41页 |
| ·非球面环形子孔径划分公式的推导 | 第27-31页 |
| ·子孔径可分辨范围的直观确定法 | 第31-34页 |
| ·基于等厚干涉的非球面环形子孔径分析法 | 第34-36页 |
| ·各子孔径的选取及参数计算 | 第36-39页 |
| ·以最佳球为参考球的基准子孔径确定法 | 第39-41页 |
| ·非球面环形子孔径的拼接 | 第41-52页 |
| ·基于四步移相的条纹解调技术 | 第41-42页 |
| ·第i个子孔径的相位表示 | 第42-44页 |
| ·两个子孔径之间的拼接模型 | 第44-46页 |
| ·全局优化拼接算法 | 第46-49页 |
| ·全孔径拼接数据的误差消除 | 第49-51页 |
| ·非球面环形子孔径拼接检测的精度评价 | 第51-52页 |
| 第三章 非球面环形子孔径拼接检测方法仿真 | 第52-66页 |
| ·仿真程序的准备 | 第52-53页 |
| ·拼接前的数据处理 | 第53-58页 |
| ·不同拼接算法对拼接结果的影响仿真 | 第58-63页 |
| ·两两拼接算法 | 第58-61页 |
| ·全局优化拼接算法 | 第61-63页 |
| ·不同子孔径划分方式对拼接结果的影响仿真 | 第63-66页 |
| 第四章 基于数字图像处理的高精度非球面定位方法研究 | 第66-75页 |
| ·非球面部分零位检测方法介绍 | 第66-68页 |
| ·基于数字图像处理的非球面定位方法原理 | 第68-72页 |
| ·参考仿真干涉图的获取和处理 | 第69-70页 |
| ·任意一幅干涉图的获取和处理 | 第70-71页 |
| ·非球面的定位过程 | 第71-72页 |
| ·基于数字图像处理的非球面定位方法仿真和实验结果 | 第72-75页 |
| ·非球面位于最佳检测位置时的干涉图仿真结果 | 第72页 |
| ·确定实验的评价函数值 | 第72-73页 |
| ·实验系统的搭建及实验结果分析 | 第73-75页 |
| 第五章 非球面环形子孔径拼接检测实验 | 第75-84页 |
| ·非球面环形子孔径拼接检测实验系统介绍 | 第75-76页 |
| ·实验系统的装调及实验数据的获取 | 第76-80页 |
| ·实验数据的处理 | 第80-84页 |
| 第六章 总结及展望 | 第84-87页 |
| ·本文小结 | 第84-85页 |
| ·问题与展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-90页 |
| 自我介绍 | 第90页 |
| 硕士期间发表的文章 | 第90页 |