| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-11页 |
| 插图索引 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-25页 |
| ·量子测量假设 | 第12-13页 |
| ·正交投影测量和半正定算子测量 | 第13-14页 |
| ·弱测量理论及应用 | 第14-17页 |
| ·量子信息理论 | 第17-20页 |
| ·量子态不可克隆,不可删除,不可区分定理,系综的量子性 | 第20-23页 |
| ·本论文工作的目的及主要内容 | 第23-25页 |
| 第2章 弱测量理论及应用研究 | 第25-46页 |
| ·引言 | 第25-26页 |
| ·弱测量结果精确表述 | 第26-29页 |
| ·测量仪器的最大偏转量 | 第29-33页 |
| ·弱测量对性噪比的提高 | 第33-40页 |
| ·在由弱测量引起的概率降低情况下的性噪比提高 | 第34-37页 |
| ·在不考虑由弱测量引起的概率降低情况下的性噪比提高 | 第37-40页 |
| ·利用弱测量方法对测量灵敏度的提高 | 第40-44页 |
| ·考虑由后选择引起的概率降低情况下测量灵敏度的提高 | 第40-43页 |
| ·不考虑由后选择引起的概率降低情况下测量灵敏度的提高 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第3章 信息获取量和测量耦合强度的关系研究 | 第46-58页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·信息获取量和耦合强度 | 第47-51页 |
| ·信息获取量与耦合强度的单调性 | 第51-54页 |
| ·信息获取量的互补关系 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 利用测量来量化系综的量子性经典性 | 第58-70页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·利用测量手段量化系综经典性 | 第59-67页 |
| ·系综的量子性 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的论文 | 第80页 |
