| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题概述 | 第10-12页 |
| ·本课题的研究内容 | 第12-13页 |
| ·本论文的结构安排 | 第13-15页 |
| 第二章 CCD 相关技术概述 | 第15-23页 |
| ·CCD 简介 | 第15-21页 |
| ·CCD 工作的基本流程 | 第15-16页 |
| ·评价 CCD 的基本参数 | 第16-20页 |
| ·CCD 中的 smear 现象 | 第20-21页 |
| ·smear 现象 | 第20页 |
| ·smear 现象的评价 | 第20-21页 |
| ·主流摄像机中 CCD 与 CMOS 图像传感器的比较 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 系统结构与方案 | 第23-25页 |
| ·系统需求 | 第23页 |
| ·系统原理 | 第23页 |
| ·系统结构及功能框图 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第四章 摄像机硬件设计 | 第25-43页 |
| ·CCD 的选择 | 第25-28页 |
| ·KAI-11002 的结构 | 第25-26页 |
| ·KAI-11002 的工作原理 | 第26-27页 |
| ·KAI-11002 的光谱响应曲线 | 第27-28页 |
| ·KAI-11002 的主要技术指标 | 第28页 |
| ·千万级像元 CCD 摄像机时序驱动电路设计 | 第28-34页 |
| ·CCD 常用时序驱动电路分类 | 第29页 |
| ·FPGA+专用时序产生器设计 | 第29-30页 |
| ·专用时序产生器的选型和介绍 | 第30-31页 |
| ·FPGA+专用时序产生器电路搭建电路图 | 第31页 |
| ·驱动电路设计 | 第31-34页 |
| ·千万级像元 CCD 摄像机信号处理电路设计 | 第34-36页 |
| ·千万级像元 CCD 摄像机数据传输电路设计 | 第36-39页 |
| ·数据发送电路设计 | 第36-37页 |
| ·数据接收电路设计 | 第37-39页 |
| ·千万级像元 CCD 摄像机摄像机供电电路设计 | 第39-42页 |
| ·开关电源与线性电源供电电路的对比 | 第39-40页 |
| ·摄像机供电电路设计 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 软件系统的设计 | 第43-72页 |
| ·FPGA 电路 | 第43-44页 |
| ·FPGA 介绍与选型 | 第43页 |
| ·FPGA 与外部电路的连接 | 第43-44页 |
| ·FPGA 软件设计 | 第44-69页 |
| ·FPGA 软件构建环境 | 第44页 |
| ·FPGA 软件组成模块 | 第44页 |
| ·自动电子快门 | 第44-51页 |
| ·自动增益 | 第51-56页 |
| ·预曝光技术及多时序控制 | 第56-69页 |
| ·单片机软件设计 | 第69-70页 |
| ·单片机软件构建环境 | 第69页 |
| ·单片机软件设计 | 第69-70页 |
| ·上位机图像采集软件设计 | 第70-71页 |
| ·delphi 软件开发环境 | 第70页 |
| ·delphi 软件开发环境 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 千万级像元 CCD 摄像机的测试与性能评价 | 第72-79页 |
| ·千万级像元 CCD 摄像机的预期功能及达到指标 | 第72-73页 |
| ·各定量指标的测试方法 | 第73-75页 |
| ·靶面最低照度测试方法 | 第73页 |
| ·信噪比测试方法 | 第73-75页 |
| ·帧频测试方法 | 第75页 |
| ·各功能的测试方法 | 第75-76页 |
| ·自动电子快门功能测试方法 | 第75-76页 |
| ·自动增益功能测试方法 | 第76页 |
| ·摄像机通讯功能测试方法 | 第76页 |
| ·样机的测试数据 | 第76-77页 |
| ·摄像机样机成像照片 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第七章 结论 | 第79-81页 |
| ·本文的主要贡献 | 第79-80页 |
| ·硬件方面 | 第79页 |
| ·软件方面 | 第79-80页 |
| ·下一步工作的展望 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 参考文献 | 第82-83页 |
| 硕期间取得的研究成果 | 第83-84页 |