| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·高介电常数材料的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·巨介电材料的研究现状 | 第11-16页 |
| ·CCTO陶瓷的研究现状 | 第11-15页 |
| ·NBCTO陶瓷的研究现状 | 第15-16页 |
| ·本论文的目标及主要内容 | 第16-18页 |
| 第2章 NBCTO材料的制备及表征 | 第18-24页 |
| ·陶瓷的制备方法 | 第18-20页 |
| ·陶瓷的表征方法 | 第20-21页 |
| ·相组成分析 | 第20-21页 |
| ·微观组织分析 | 第21页 |
| ·陶瓷样品的性能测试 | 第21-24页 |
| ·室温下介电性能测试 | 第21-22页 |
| ·交流阻抗谱 | 第22-24页 |
| 第3章 Na_(0.5)Bi_(0.5)Cu_3Ti_4O_(12)陶瓷制备工艺研究 | 第24-38页 |
| ·不同预烧温度对陶瓷性能的影响 | 第24-28页 |
| ·不同预烧温度对陶瓷相结构的影响 | 第24-25页 |
| ·不同预烧温度对陶瓷显微结构的影响 | 第25页 |
| ·不同预烧温度对陶瓷介电性能的影响 | 第25-26页 |
| ·不同预烧温度对陶瓷介电温谱的影响 | 第26-27页 |
| ·不同预烧温度对陶瓷阻抗谱的影响 | 第27-28页 |
| ·不同烧结温度对陶瓷性能的影响 | 第28-33页 |
| ·不同烧结温度对陶瓷相结构的影响 | 第28-29页 |
| ·不同烧结温度对陶瓷显微结构的影响 | 第29-30页 |
| ·不同烧结温度对陶瓷介电性能的影响 | 第30-31页 |
| ·不同烧结温度对陶瓷介电温谱的影响 | 第31-32页 |
| ·不同烧结温度对陶瓷阻抗谱的影响 | 第32-33页 |
| ·不同保温时间对陶瓷性能的影响 | 第33-36页 |
| ·不同保温时间对陶瓷相结构的影响 | 第33页 |
| ·不同保温时间对陶瓷显微结构的影响 | 第33-34页 |
| ·不同保温时间对陶瓷介电性能的影响 | 第34-35页 |
| ·不同保温时间对陶瓷介电温谱的影响 | 第35-36页 |
| ·不同保温时间对陶瓷阻抗谱的影响 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第4章 钾、锂取代对Na_(0.5)Bi_(0.5)Cu_3Ti_4O_(12)陶瓷性能的影响 | 第38-46页 |
| ·K~+取代NBCTO陶瓷性能的影响 | 第38-41页 |
| ·K~+取代对陶瓷相结构的影响 | 第38-39页 |
| ·K~+取代对陶瓷显微结构的影响 | 第39页 |
| ·K~+取代对陶瓷介电性能的影响 | 第39-40页 |
| ·K~+取代对陶瓷介电温谱的影响 | 第40-41页 |
| ·本节小结 | 第41页 |
| ·Li~+取代对NBCTO陶瓷性能的影响 | 第41-44页 |
| ·Li~+取代对陶瓷相结构的影响 | 第41-42页 |
| ·Li~+取代对陶瓷显微结构的影响 | 第42-43页 |
| ·Li~+取代对陶瓷介电性能的影响 | 第43页 |
| ·Li~+取代对陶瓷介电温谱的影响 | 第43-44页 |
| ·本节小结 | 第44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第5章 镧取代对Na_(0.5)Bi_(0.5)Cu_3Ti_4O_(12)陶瓷性能的影响 | 第46-52页 |
| ·La~(3+)取代对陶瓷相结构的影响 | 第46-47页 |
| ·La~(3+)取代对陶瓷晶胞参数的影响 | 第47页 |
| ·La~(3+)取代对陶瓷显微结构的影响 | 第47-48页 |
| ·La~(3+)取代对陶瓷介电性能的影响 | 第48-49页 |
| ·La~(3+)取代对陶瓷介电温谱的影响 | 第49-50页 |
| ·La~(3+)取代对陶瓷阻抗谱的影响 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第6章 全文结论和进一步研究工作建议 | 第52-54页 |
| ·全文主要结论 | 第52-53页 |
| ·全文的新见解 | 第53页 |
| ·进一步工作的建议 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-60页 |
| 附录 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 攻读硕士学位期间科研成果 | 第64页 |
