| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| ·选题背景 | 第9-10页 |
| ·数控三维扫描技术 | 第9-10页 |
| ·三维扫描系统的分类实现 | 第10页 |
| ·国内外研究概况与发展趋势 | 第10-13页 |
| ·经典三维运动分析与实时追踪算法 | 第10-11页 |
| ·嵌入式平台与三维扫描产业化现状 | 第11-13页 |
| ·本文研究要点 | 第13-14页 |
| 2 三维轨迹扫描系统总体方案设计 | 第14-18页 |
| ·三维轨迹扫描原理分析 | 第14-15页 |
| ·三维轨迹扫描系统总体结构 | 第15-18页 |
| 3 系统硬件结构 | 第18-27页 |
| ·硬件平台选择与TMS320F2812 处理器简介 | 第18-21页 |
| ·系统硬件结构与资源分配 | 第21-27页 |
| 4 三维轨迹扫描系统软件设计 | 第27-56页 |
| ·软件需求分析与设计流程 | 第27-29页 |
| ·系统软件框架设计 | 第29-34页 |
| ·任务调度与改进式前/后台系统实现 | 第29-32页 |
| ·并发操作与时基同步 | 第32-34页 |
| ·驱动模块设计 | 第34-43页 |
| ·QEP 逻辑分析与驱动设计 | 第34-36页 |
| ·McBSP 串行口通信与ADS7841 驱动设计 | 第36-40页 |
| ·电机驱动模块设计 | 第40-43页 |
| ·采样数据处理 | 第43-45页 |
| ·采样数据文件格式与通信协议 | 第45-49页 |
| ·采样数据文件格式定义 | 第45-47页 |
| ·采样数据文件通信协议 | 第47-49页 |
| ·系统GUI 与上位机监控软件设计 | 第49-56页 |
| ·基于LCD 屏的系统GUI 设计 | 第49-51页 |
| ·上位机监控软件设计 | 第51-56页 |
| 5 软件测试与结果分析 | 第56-64页 |
| ·外设软件驱动测试与结果分析 | 第56-59页 |
| ·QEP 软件驱动测试与结果分析 | 第56-58页 |
| ·基于McBSP 串口通信的ADS7841 采样测试 | 第58-59页 |
| ·三维曲线采样测试与结果分析 | 第59-63页 |
| ·圆角矩形标准具轮廓采样测试 | 第59-61页 |
| ·圆柱标准具轮廓采样测试 | 第61-62页 |
| ·圆柱标准具纵向信息采样重复性测试 | 第62-63页 |
| ·测试小结 | 第63-64页 |
| 6 总结与展望 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 附录1 三维轨迹扫描系统 QEP 驱动包头文件 | 第69-70页 |
| 附录2 三维轨迹扫描系统软件框架头文件 | 第70-71页 |
