孔缝电磁泄漏的算法研究及仿真分析
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-12页 |
| ·国内外孔缝电磁泄漏的研究概况及发展动态 | 第8-9页 |
| ·电磁场分析方法 | 第9-10页 |
| ·论文内容安排 | 第10-12页 |
| 2 时域有限差分法(FDTD) | 第12-26页 |
| ·FDTD的基本方程 | 第12-15页 |
| ·数值稳定性与数值色散性 | 第15-20页 |
| ·时间本征值和空间本征值 | 第15-18页 |
| ·数值稳定条件及色散 | 第18-20页 |
| ·Gedney完全匹配层吸收边界条件 | 第20-26页 |
| 3 激励源技术及激励源模型 | 第26-37页 |
| ·激励源的设置 | 第26-28页 |
| ·强迫激励源 | 第26-27页 |
| ·总场/散射场体系 | 第27-28页 |
| ·激励源模型 | 第28-37页 |
| ·脉冲源模型 | 第28-30页 |
| ·电偶极子源模型 | 第30-31页 |
| ·细导线模型 | 第31-35页 |
| ·有内阻的细导线模型 | 第35-37页 |
| 4 孔缝电磁泄漏算法的研究 | 第37-53页 |
| ·容性细缝算法(C-TSF) | 第37-39页 |
| ·环路法(CP) | 第39-43页 |
| ·基本算法 | 第39-41页 |
| ·环路法应用于解决有厚度的细孔缝问题 | 第41-43页 |
| ·细缝半解析算法及其改进算法 | 第43-50页 |
| ·细缝半解析算法 | 第43-47页 |
| ·修正后的算法 | 第47-50页 |
| ·对圆孔缝的推导 | 第50-53页 |
| ·共形网格技术 | 第50-51页 |
| ·圆孔缝算法 | 第51-53页 |
| 5 FDTD的软件实现 | 第53-58页 |
| ·内存分配及时间步表示 | 第53-54页 |
| ·程序的接口问题 | 第54-56页 |
| ·流程图 | 第56页 |
| ·内存与时间步估计 | 第56-58页 |
| 6 仿真结果分析 | 第58-65页 |
| ·仿真程序设计及验证 | 第58-59页 |
| ·不同极化方向的电磁波的影响分析 | 第59-62页 |
| ·不同形状的孔缝的影响分析 | 第62-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
