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多IP复用SOC的可靠性研究与验证

摘要第1-10页
Abstract第10-12页
专业术语及符号说明第12-13页
第一章 绪论第13-19页
   ·SOC概述第13-16页
   ·可靠性应用技术第16-17页
   ·验证方法的发展现状第17-18页
   ·本章小结第18-19页
第二章 容错机制及相关理论第19-36页
   ·奇偶校验码第19-24页
     ·垂直奇偶校验第19-20页
     ·水平奇偶校验第20-21页
     ·水平垂直奇偶校验第21-22页
     ·2位奇偶校验第22-24页
   ·BCH码第24-31页
     ·分组码第24-25页
     ·线性分组码第25-27页
     ·循环码第27-29页
     ·BCH码第29-31页
   ·TMR(三模冗余)寄存器第31-32页
   ·流水线重启第32-33页
   ·强迫CACHE不命中第33-35页
     ·CACHE的组成第33-34页
     ·CACHE的基本操作第34-35页
   ·本章小结第35-36页
第三章 片上可靠性研究第36-40页
   ·片上处理器的可靠性研究第36-37页
   ·多IP核间通信的可靠性研究第37-38页
   ·片上存储器的可靠性研究第38-39页
   ·嵌入BIST电路第39页
   ·本章小节第39-40页
第四章 VHDL建模第40-48页
   ·SOC整体概况第40-41页
   ·SOC结构及其特点第41-43页
   ·SOC设计细则第43-47页
   ·本章小结第47-48页
第五章 SOC逻辑验证第48-57页
   ·验证在SOC设计中所处的位置第48-50页
   ·SOC验证平台的搭建第50-54页
   ·对所设计的SOC模型进行逻辑验证第54-56页
   ·本章小结第56-57页
结论与展望第57-58页
附录第58-67页
 附录1 该SOC主IP核mcore的VHDL代码第58-65页
 附录2 EP2C20Q240C8引脚应用图第65-66页
 附录3 SOC验证平台主板第66-67页
参考文献第67-71页
致谢第71-72页
学位论文评阅及答辩情况表第72页

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