用多路望远镜系统测量~9Be(n,xα)反应的双微分截面
摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
第一章 引言 | 第9-16页 |
·实验研究的意义与困难 | 第9-11页 |
·实验研究的意义 | 第9-10页 |
·实验研究的难点 | 第10-11页 |
·现有的实验测量方法简介 | 第11-12页 |
·~9Be(n,xα)的相关数据情况 | 第12-16页 |
第二章 多路望远镜系统 | 第16-24页 |
·多路望远镜系统的特点 | 第16页 |
·多路望远镜系统的结构 | 第16-20页 |
·圆柱型多丝正比室 | 第17-19页 |
·中心能量探测器 | 第19页 |
·多丝室气压稳定系统 | 第19-20页 |
·多路望远镜几何 | 第20-24页 |
·平均立体角 | 第21页 |
·平均距离 | 第21-22页 |
·角孔径函数 | 第22-24页 |
第三章 探测器系统的刻度 | 第24-33页 |
·系统的能量刻度 | 第24-29页 |
·6MeV以下能区刻度 | 第24-27页 |
·6MeV以上能区刻度 | 第27-29页 |
·中子注量沿靶环分布的模拟计算 | 第29-33页 |
·模拟计算说明 | 第29-31页 |
·模拟计算结果 | 第31-33页 |
第四章 实验过程和数据获取 | 第33-43页 |
·中子源与中子注量率的选择 | 第33-35页 |
·Be样品 | 第35-36页 |
·电子学线路 | 第36-39页 |
·计算机在线数据获取系统 | 第39-40页 |
·实验测量过程 | 第40-42页 |
·模拟测量 | 第40-41页 |
·效应测量 | 第41页 |
·本底测量 | 第41页 |
·能量刻度 | 第41-42页 |
·系统的探测效率 | 第42-43页 |
第五章 实验数据的离线分析 | 第43-59页 |
·各靶区的中子注量 | 第43-44页 |
·实验数据的离线分析 | 第44-45页 |
·纯效应谱 | 第45-47页 |
·样品表面出射谱 | 第47-48页 |
·厚靶数据处理方法 | 第48-50页 |
·Monte-Carlo模拟计算 | 第50-59页 |
·输入数据 | 第50-51页 |
·模拟迭代过程 | 第51-59页 |
第六章 讨论与总结 | 第59-63页 |
·实验结果与理论计算数据比较 | 第59-60页 |
·数据的不确定度来源分析 | 第60页 |
·能量分辨率 | 第60-61页 |
·总结与改进建议 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
附录1 MCNP程序的输入卡 | 第67-70页 |
附录2 α在介质中的能损和射程情况 | 第70-71页 |
附录3 一些材料的截面与Q值(En=14MeV) | 第71-72页 |
附录4 T(d,n)中子源的角分布数据 | 第72-73页 |
附录5 实验测量谱与模拟谱 | 第73-75页 |
附录6 样品表面出射谱与模拟谱 | 第75-77页 |
在读硕士学位期间参加的工作 | 第77页 |