| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-12页 |
| ·研发VXI 高速数字测试模块的意义和价值 | 第9页 |
| ·VXI 高速数字测试模块在国内外的研究情况 | 第9-10页 |
| ·VXI 高速数字测试模块的整体结构及笔者负责的任务 | 第10-11页 |
| ·论文结构 | 第11-12页 |
| 第二章 VXI 总线消息基接口的设计与实现 | 第12-31页 |
| ·消息基器件简介 | 第12页 |
| ·模块总体设计方案 | 第12-14页 |
| ·驱动匹配电路 | 第14-17页 |
| ·方案中FPGA 器件的选择 | 第17-19页 |
| ·VXI 总线消息基接口的设计与实现 | 第19-31页 |
| 第三章 实现高速数据传输的准FDC 电路设计 | 第31-41页 |
| ·VXI 总线FDC 的工作原理 | 第31-33页 |
| ·准FDC 电路的设计方案 | 第33-36页 |
| ·准FDC 电路设计 | 第36-41页 |
| 第四章 VXI 总线高速数字测试模块驱动软件设计 | 第41-63页 |
| ·驱动软件的总体设计方案和工具 | 第41-42页 |
| ·仪器驱动程序设计 | 第42-51页 |
| ·软面板设计 | 第51-59页 |
| ·测试举例 | 第59-63页 |
| 第五章 接口电路和驱动程序的调试与测试结果 | 第63-68页 |
| ·模块电源的调试 | 第63页 |
| ·模块初始化调试 | 第63页 |
| ·消息基接口功能调试 | 第63-64页 |
| ·快速数据传输电路调试 | 第64-65页 |
| ·驱动程序和软面板联调 | 第65页 |
| ·调试过程出现的主要问题及解决方法 | 第65-66页 |
| ·性能指标测试 | 第66-68页 |
| 第六章 总结和建议 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 在学期间的研究成果 | 第71页 |