| 中文摘要 | 第1-8页 |
| 英文摘要 | 第8-10页 |
| 简缩字表 | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1．1 电子设备电路故障红外检测的发展 | 第11-12页 |
| 1．2 图像处理的应用 | 第12-13页 |
| 1．3 论文完成的工作 | 第13-14页 |
| 1．4 论文的结构 | 第14-15页 |
| 第二章 电路板红外检测原理 | 第15-23页 |
| 2．1 红外热成像技术的检测原理 | 第15-16页 |
| 2．2 PCB故障的分类 | 第16-17页 |
| 2．3 PCB故障的可测性 | 第17-18页 |
| 2．4 诊断仪的组成原理及工作过程 | 第18-19页 |
| 2．5 开发诊断仪应注意的问题 | 第19-21页 |
| 2．5．1 PCB的选择 | 第19-20页 |
| 2．5．2 标准热像STP的建立 | 第20页 |
| 2．5．3 加电时间的规定 | 第20页 |
| 2．5．4 环境变化的研究 | 第20-21页 |
| 2．5．5 可变因素的研究 | 第21页 |
| 2．6 诊断仪软件部分的组成框图 | 第21-23页 |
| 第三章 图像的空间变换 | 第23-44页 |
| 3．1 摄像机定标的模拟 | 第23-30页 |
| 3．1．1 摄像机定标的任务与研究的主要问题 | 第23页 |
| 3．1．2 图像坐标系、摄像机坐标系与世界坐标系 | 第23-25页 |
| 3．1．3 线性摄像机模型（针孔模型） | 第25-27页 |
| 3．1．4 摄像机定标方法 | 第27-30页 |
| 3．1．4．1 定标方法综述 | 第27页 |
| 3．1．4．2 算法仿真 | 第27-30页 |
| 3．2 电路板位置的确定 | 第30-35页 |
| 3．2．1 利用图像旋转公式确定图像的位置变化 | 第30-33页 |
| 3．2．1．1 图像旋转公式的理论推导 | 第30-32页 |
| 3．2．1．2 算法仿真 | 第32-33页 |
| 3．2．2 有微小错位的两个图像之间位置偏移大小的检测 | 第33-35页 |
| 3．2．2．1 理论推导 | 第33-34页 |
| 3．2．2．2 算法仿真 | 第34-35页 |
| 3．3 图像的配准 | 第35-44页 |
| 3．3．1 基于灰度的图像匹配 | 第36-41页 |
| 3．3．1．1 相似度度量 | 第36-38页 |
| 3．3．1．2 序贯相似性检测法 | 第38-41页 |
| 3．3．2 基于矩的图像匹配 | 第41-44页 |
| 第四章 图像处理插值算法研究 | 第44-59页 |
| 4．1 最邻近插值 | 第44页 |
| 4．2 重复插值 | 第44-45页 |
| 4．3 双线性插值 | 第45-46页 |
| 4．4 三次样条插值 | 第46-49页 |
| 4．5 基本算法仿真 | 第49-51页 |
| 4．6 小波插值 | 第51-59页 |
| 4．6．1 小波变换 | 第51-54页 |
| 4．6．2 小波的选取 | 第54页 |
| 4．6．3 小波插值方法 | 第54-56页 |
| 4．6．4 小波插值算法仿真 | 第56-59页 |
| 第五章 图像的分割与轮廓提取 | 第59-74页 |
| 5．1 图像的分割 | 第59-61页 |
| 5．1．1 最大类间方差阈值法 | 第59-60页 |
| 5．1．2 试验和仿真结果 | 第60-61页 |
| 5．2 图像腐蚀和膨胀算法研究 | 第61-66页 |
| 5．2．1 数学形态学简介 | 第61-62页 |
| 5．2．2 图像腐蚀基本概念 | 第62-63页 |
| 5．2．3 图像膨胀基本概念 | 第63-64页 |
| 5．2．4 开运算和闭运算的基本概念 | 第64-65页 |
| 5．2．5 实际应用 | 第65-66页 |
| 5．3 轮廓提取与轮廓跟踪 | 第66-67页 |
| 5．4 形态运算的仿真实验 | 第67-74页 |
| 全文总结 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-79页 |
| 个人简历 | 第79页 |