| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-14页 |
| 缩略语 | 第14-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-41页 |
| ·无线通信的回顾 | 第16-19页 |
| ·早期的无线电通信 | 第17-18页 |
| ·蜂窝移动通信的出现 | 第18页 |
| ·信道建模的起源 | 第18-19页 |
| ·移动通信信道的特性 | 第19-23页 |
| ·自由空间传播的路径损耗 | 第19-21页 |
| ·多径衰落信道的特性 | 第21-23页 |
| ·衰落信道模型 | 第23-24页 |
| ·多径衰落信道模型 | 第23页 |
| ·阴影衰落信道模型 | 第23-24页 |
| ·合成的多径—阴影衰落信道模型 | 第24页 |
| ·多径衰落信号的多普勒功率谱密度函数 | 第24-26页 |
| ·信道模型的一阶和二阶统计函数 | 第26-33页 |
| ·Rayleigh | 第28-29页 |
| ·Nakagami-n(Rice) | 第29-30页 |
| ·Nakagami-q(Hoyt) | 第30页 |
| ·Nakagami-m | 第30-31页 |
| ·Weibull | 第31-32页 |
| ·Beckmann | 第32-33页 |
| ·Log-Normal | 第33页 |
| ·本文的主要内容及研究成果 | 第33-36页 |
| 参考文献 | 第36-41页 |
| 第二章 移动衰落信道的数学模型 | 第41-73页 |
| ·小尺度衰落的数学模型 | 第43-62页 |
| ·包络和相位及其导数过程的联合概率密度函数 | 第43-53页 |
| ·非对称的多普勒功率谱密度函数的产生 | 第44-48页 |
| ·包络和相位及其导数过程的联合概率密度函数的推导 | 第48-53页 |
| ·通用Rice过程ξ(t)及其相位过程(?)(t)的概率密度函数 | 第53-56页 |
| ·通用Rice过程ξ(t)的概率密度函数 | 第53-55页 |
| ·相位过程(?)(t)的概率密度函数 | 第55-56页 |
| ·通用Rice过程ξ(t)的电平交叉率和平均衰落持续时间 | 第56-62页 |
| ·通用Rice过程ξ(t)的电平交叉率 | 第57-60页 |
| ·通用Rice过程ξ(t)的平均衰落持续时间 | 第60-62页 |
| ·大尺度衰落的数学模型 | 第62-64页 |
| ·对数正态分布过程ζ(t)的概率密度函数 | 第63页 |
| ·对数正态分布过程ζ(t)及其导数过程ζ(t)的联合概率密度函数 | 第63-64页 |
| ·扩展的ZUSUKI过程的数学模型 | 第64-69页 |
| ·扩展的Zusuki过程的概率密度函数 | 第64-65页 |
| ·扩展的Suzuki过程的电平交叉率和平均衰落持续时间 | 第65-69页 |
| ·扩展的Suzuki过程的电平交叉率 | 第65-67页 |
| ·扩展的Suzuki过程的平均衰落持续时间 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 第三章 有色高斯噪声过程的计算机模拟 | 第73-96页 |
| ·计算机模型的参数计算 | 第74-90页 |
| ·等距离取样法(MED) | 第75-79页 |
| ·Jakes功率谱密度函数的MED法参数求解 | 第76-77页 |
| ·Gaussian功率谱密度函数的MED法参数求解 | 第77-79页 |
| ·等面积取样法(MEA) | 第79-82页 |
| ·Jakes功率谱密度函数的MEA法参数求解 | 第80页 |
| ·Gaussian功率谱密度函数的MEA法参数求解 | 第80-82页 |
| ·随机(Monte Carlo)取样法(MCM) | 第82-85页 |
| ·Jakes功率谱密度函数的MCM法参数求解 | 第83页 |
| ·Gaussian功率谱密度函数的MCM法参数求解 | 第83-85页 |
| ·最小均方误差法(MSEM) | 第85-87页 |
| ·Jakes功率谱密度函数的MSEM法参数求解 | 第85-86页 |
| ·Gaussian功率谱密度函数的MSEM法参数求解 | 第86-87页 |
| ·实际多普勒扩散法(MEDS) | 第87-90页 |
| ·Jakes功率谱密度函数的MEDS法参数求解 | 第88-89页 |
| ·Gaussian功率谱密度函数的MEDS法参数求解 | 第89-90页 |
| ·模拟过程的性能 | 第90-93页 |
| ·平均多谱勒偏移因子及多谱勒扩散因子 | 第90-91页 |
| ·Jakes功率谱密度的平均多谱勒偏移因子及多谱勒扩散因子 | 第91页 |
| ·Gaussian功率密度谱的平均多谱勒偏移因子及多谱勒扩散因子 | 第91页 |
| ·模拟过程的平均多谱勒偏移因子及多谱勒扩散因子 | 第91-93页 |
| ·本章小结 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-96页 |
| 第四章 移动衰落信道的计算机模型及性能 | 第96-113页 |
| ·信道模型的参量优化 | 第96-99页 |
| ·通用Rice过程ξ(t)的参量优化 | 第97-98页 |
| ·扩展的Suzuki过程η(t)的参量优化 | 第98-99页 |
| ·扩展的SUZUKI过程的计算机模型 | 第99-101页 |
| ·扩展的SUZUKI过程的计算机模拟及性能分析 | 第101-107页 |
| ·扩展的SUZUKI过程模拟器 | 第107-110页 |
| ·本章小结 | 第110-111页 |
| 参考文献 | 第111-113页 |
| 第五章 数字信号通过衰落信道的传输性能 | 第113-135页 |
| ·频率非选择性慢衰落通用RICE信道上的数字信号传输 | 第114-125页 |
| ·相干BPSK检测 | 第116-120页 |
| ·相干BFSK检测 | 第120页 |
| ·准相干DBPSK检测 | 第120-122页 |
| ·非相干BFSK检测 | 第122-123页 |
| ·通用Rice衰落信道上二进制信号传输的BER比较 | 第123-125页 |
| ·频率选择性慢衰落通用RICE信道上的数字信号传输 | 第125-130页 |
| ·相干BPSK检测 | 第127-128页 |
| ·相干BFSK检测 | 第128页 |
| ·差分相干DBPSK和非相干BFSK检测 | 第128-130页 |
| ·通用Rice衰落信道上L分集合并检测二进制信号的BER比较 | 第130页 |
| ·本章小结 | 第130-132页 |
| 参考文献 | 第132-135页 |
| 第六章 总结与展望 | 第135-138页 |
| 附录A(2.26A)式指数项矩阵的推导 | 第138-143页 |
| 作者攻读博士学位期间论文发表和专利申请情况 | 第143-145页 |
| 作者攻读博士学位期间参与的项目和获奖情况 | 第145-147页 |
| 致谢 | 第147页 |
