银基电接触材料在继电器中的应用研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-25页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·电触头的工作状态 | 第10-11页 |
| ·闭合过程 | 第10页 |
| ·闭合导电状态 | 第10-11页 |
| ·分断过程 | 第11页 |
| ·电器对电触头材料的基本要求 | 第11-13页 |
| ·物理性质 | 第11页 |
| ·化学性质 | 第11-12页 |
| ·电接触性质 | 第12页 |
| ·其他性质 | 第12-13页 |
| ·电触头材料的分类 | 第13-19页 |
| ·弱电触头材料 | 第13-15页 |
| ·强电触头材料 | 第15页 |
| ·银金属氧化物电接触材料 | 第15-18页 |
| ·烧结银合金触头材料 | 第18-19页 |
| ·添加物对银基触头材料的影响 | 第19-20页 |
| ·稀土元素在电触头中的应用 | 第20-21页 |
| ·稀土的性质 | 第20-21页 |
| ·稀土的主要应用 | 第21页 |
| ·稀土元素的作用机制 | 第21页 |
| ·原子力显微镜在形貌分析中的应用 | 第21-24页 |
| ·基本原理 | 第22-23页 |
| ·原子力显微镜的特点 | 第23-24页 |
| ·本论文的研究内容 | 第24-25页 |
| 研究内容 | 第24页 |
| 本课题来源 | 第24-25页 |
| 第二章 银基电触头材料的制备与研究 | 第25-38页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·电触头材料的制备工艺 | 第25-31页 |
| ·粉末冶金法 | 第25页 |
| ·反应喷雾法 | 第25-26页 |
| ·机械合金化法 | 第26-27页 |
| ·化学共沉淀法 | 第27-28页 |
| ·合金内氧化法 | 第28-30页 |
| ·预氧化合金法 | 第30-31页 |
| ·反应合成法 | 第31页 |
| ·实验方法 | 第31-33页 |
| ·制备工艺的选取 | 第31-32页 |
| ·实验药品 | 第32页 |
| ·实验设备 | 第32-33页 |
| ·AgSnO_2 电触头的制备工艺 | 第33-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 银基电触头静态性能研究 | 第38-58页 |
| ·引言 | 第38-39页 |
| ·稀土元素对AgSnO_2 电触头性能的影响 | 第39-51页 |
| ·实验方案及结果 | 第39-41页 |
| ·稀土含量对AgSnO_2 触头电性能的影响 | 第41-43页 |
| ·稀土含量对触头密度的影响 | 第43-44页 |
| ·稀土含量对AgSnO_2 触头硬度的影响 | 第44-46页 |
| ·AgSnO_2 稀土触头显微组织分析 | 第46-48页 |
| ·AgSnO_2 稀土触头SEM 和元素分布分析 | 第48-51页 |
| ·AgW、AgWC 触头材料的静态性能研究 | 第51-55页 |
| ·实验方案及结果 | 第52页 |
| ·AgW 和AgWC 触头材料显微组织分析 | 第52-53页 |
| ·AgW 和AgWC 电触头表面成分分析 | 第53-55页 |
| ·银基触头材料静态物理性能比较分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第四章 模拟继电器条件下电触头动态性能研究 | 第58-76页 |
| ·引言 | 第58-59页 |
| ·电弧能量作用及触头材料的响应 | 第59-60页 |
| ·电弧放电的过程 | 第59页 |
| ·架桥的形成 | 第59页 |
| ·开离电弧 | 第59-60页 |
| ·触头动态性能测试的国家规定 | 第60-61页 |
| ·动态性能测试系统的设计 | 第61-64页 |
| ·触头材料动态性能测试分析 | 第64-72页 |
| ·触头间材料转移分析 | 第64-66页 |
| ·触头导电性能分析 | 第66-68页 |
| ·触头表面形貌分析 | 第68-72页 |
| ·银基电触头材料的电侵蚀机制 | 第72-75页 |
| ·电侵蚀的主要形式 | 第72-73页 |
| ·银基触头的电侵蚀形貌特征 | 第73-74页 |
| ·电触头材料的粘附与熔焊 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 全文总结 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
