功能安全与微控制器自诊断技术的研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 1 综述 | 第10-16页 |
| ·安全相关系统的意义 | 第10-12页 |
| ·安全相关系统和功能安全 | 第10页 |
| ·安全相关系统在各行业的应用 | 第10-11页 |
| ·安全相关系统对微控制器的要求 | 第11-12页 |
| ·功能安全标准化发展 | 第12-14页 |
| ·系列标准 | 第12-13页 |
| ·国内外标准应用情况 | 第13-14页 |
| ·本文的主要工作 | 第14-15页 |
| ·小结 | 第15-16页 |
| 2 诊断技术概述 | 第16-26页 |
| ·安全完整性等级与诊断 | 第16-19页 |
| ·安全完整性等级 | 第16-17页 |
| ·结构约束 | 第17-19页 |
| ·安全相关系统中的诊断 | 第19-22页 |
| ·不同安全子系统单元的诊断 | 第19-21页 |
| ·诊断的计算 | 第21-22页 |
| ·ECU实例 | 第22-25页 |
| ·逻辑结构 | 第22页 |
| ·诊断机制 | 第22-25页 |
| ·小结 | 第25-26页 |
| 3 存储器测试技术 | 第26-40页 |
| ·RAM测试 | 第26-34页 |
| ·功能模型 | 第26-27页 |
| ·故障模型 | 第27-28页 |
| ·测试方法 | 第28-29页 |
| ·测试算法 | 第29-33页 |
| ·算法比较 | 第33-34页 |
| ·ROM测试 | 第34-39页 |
| ·测试算法 | 第34页 |
| ·CRC校验码产生原理 | 第34-35页 |
| ·按位计算法 | 第35-36页 |
| ·按字节计算 | 第36-38页 |
| ·按半字节计算 | 第38-39页 |
| ·小结 | 第39-40页 |
| 4 微控制器自诊断实现 | 第40-58页 |
| ·微控制器介绍 | 第40-42页 |
| ·可变存储器测试 | 第42-47页 |
| ·算法比较 | 第42-45页 |
| ·测试实现 | 第45-47页 |
| ·不可变存储器测试 | 第47-51页 |
| ·算法比较 | 第47-49页 |
| ·测试实现 | 第49-51页 |
| ·CPU测试 | 第51-55页 |
| ·原理 | 第51-52页 |
| ·测试实现 | 第52-55页 |
| ·时钟测试 | 第55-57页 |
| ·原理 | 第55-56页 |
| ·测试实现 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 5 实验与验证 | 第58-64页 |
| ·测试过程 | 第58-59页 |
| ·故障插入 | 第59-63页 |
| ·软件故障插入 | 第59-61页 |
| ·硬件故障插入 | 第61-63页 |
| ·小结 | 第63-64页 |
| 6 结论 | 第64-66页 |
| ·总结 | 第64-65页 |
| ·展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-68页 |
| 作者简历 | 第68-70页 |
| 学位论文数据集 | 第70页 |
