可调谐二极管激光波长调制光谱技术的模拟研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景 | 第9-10页 |
| ·TDLWMS技术发展现状 | 第10-12页 |
| ·课题主要研究内容 | 第12-14页 |
| 第2章 直接吸收信号的模拟 | 第14-33页 |
| ·引言 | 第14-15页 |
| ·Beer-Lambert定律 | 第15-20页 |
| ·气体吸收线强S(T)与分子数密度N | 第15-16页 |
| ·归一化线型函φ(v) | 第16-20页 |
| ·直接吸收信号的模拟结果和验证 | 第20-32页 |
| ·直接吸收信号的模拟结果 | 第20-25页 |
| ·温度对吸收信号的影响 | 第25-29页 |
| ·压强对吸收信号的影响 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 波长调制光谱的模拟 | 第33-64页 |
| ·引言 | 第33-34页 |
| ·波长调制光谱的基本原理 | 第34-37页 |
| ·TDLWMS技术的谐波分量 | 第34-36页 |
| ·光强调制对谐波信号的影响 | 第36-37页 |
| ·TDLWMS技术实验准备工作 | 第37-45页 |
| ·标准具的工作原理 | 第37-39页 |
| ·TDL调谐系数测量 | 第39-42页 |
| ·TDL波长的标定 | 第42-45页 |
| ·波长调制光谱的模拟 | 第45-50页 |
| ·调制信号的模拟 | 第45-48页 |
| ·解调信号的模拟 | 第48-50页 |
| ·二次谐波信号的模拟 | 第50-58页 |
| ·二次谐波信号与吸收率的关系 | 第50-52页 |
| ·二次谐波信号随调制系数的变化 | 第52-54页 |
| ·二次谐波信号随温度的变化 | 第54-56页 |
| ·二次谐波信号随压强的变化 | 第56-58页 |
| ·二次谐波信号峰值随调制系数变化 | 第58-63页 |
| ·理论计算 | 第58-60页 |
| ·模拟结果与理论计算比较 | 第60-62页 |
| ·模拟结果与实验验证 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及专利 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
