| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-29页 |
| ·研究的背景和意义 | 第13-14页 |
| ·天线测量技术的发展和分类 | 第14-17页 |
| ·天线测量技术的发展 | 第14-15页 |
| ·天线测量技术的分类 | 第15-17页 |
| ·相控阵天线的产生和发展 | 第17-21页 |
| ·相控阵天线的产生 | 第17-18页 |
| ·相控阵天线的发展趋势 | 第18-20页 |
| ·相控阵天线的应用 | 第20-21页 |
| ·相控阵天线测量与校准技术的国内外研究现状 | 第21-26页 |
| ·相控阵天线测量 | 第21-23页 |
| ·相控阵天线校准 | 第23-24页 |
| ·阵面监测 | 第24-26页 |
| ·研究内容及论文安排 | 第26-29页 |
| ·研究内容及论文写作安排 | 第26-28页 |
| ·作者的主要工作 | 第28-29页 |
| 第二章 相控阵天线相关理论及测量特点 | 第29-51页 |
| ·相控阵天线基本理论 | 第29-42页 |
| ·相控阵天线扫描的基本原理 | 第29-35页 |
| ·相控阵天线的基本特性 | 第35-40页 |
| ·相控阵天线的主要技术特点 | 第40-42页 |
| ·相控阵天线的误差 | 第42-48页 |
| ·误差类型 | 第42-43页 |
| ·阵列单元随机幅度与相位误差的分析 | 第43-45页 |
| ·误差对天线性能的影响 | 第45-48页 |
| ·相控阵天线测量特点 | 第48-51页 |
| 第三章 相控阵天线快速测量与校准方法的数学模型 | 第51-65页 |
| ·相控阵天线的构成 | 第51-55页 |
| ·天线阵面 | 第51页 |
| ·馈电方式 | 第51-52页 |
| ·移相器 | 第52-53页 |
| ·移相器控制电路 | 第53-54页 |
| ·组件式相控阵天线 | 第54-55页 |
| ·相控阵天线快速测量的数学模型 | 第55-60页 |
| ·测量机理 | 第55页 |
| ·相控阵天线快速测量中的数学描述 | 第55-56页 |
| ·相控阵天线远场特性和通道激励的关系 | 第56-57页 |
| ·探头接收信号与通道激励的关系 | 第57-60页 |
| ·换相测量法 | 第60-65页 |
| 第四章 单元在阵中方向图的确定 | 第65-83页 |
| ·引言 | 第65页 |
| ·阵列天线单元的研究 | 第65-72页 |
| ·印刷振子天线单元 | 第65-67页 |
| ·印刷振子单元的设计 | 第67-69页 |
| ·振子的仿真调试 | 第69-72页 |
| ·单元在阵中方向图的计算 | 第72-80页 |
| ·计算原理 | 第73-74页 |
| ·偶极子天线阵阻抗特性分析 | 第74-76页 |
| ·偶极子天线单元在阵中的方向图的计算 | 第76-78页 |
| ·偶极子天线单元在阵中的方向图的计算结果 | 第78-80页 |
| ·单元在阵中方向图的实际测试 | 第80-83页 |
| 第五章 换相测量法的信息量 | 第83-99页 |
| ·测量方程的解 | 第83-84页 |
| ·移相器不同控制时解的情况 | 第84-92页 |
| ·移相器独立控制 | 第85-90页 |
| ·移相器最大秩的控制 | 第90页 |
| ·移相器按模L 相加的行—列控制 | 第90-92页 |
| ·相控阵天线故障的鉴别 | 第92-95页 |
| ·相控阵天线可能的故障类型 | 第93页 |
| ·移相器传输系数的先验信息 | 第93-94页 |
| ·故障鉴别算法 | 第94-95页 |
| ·故障类型的判别 | 第95页 |
| ·偏差评估 | 第95-98页 |
| ·小结 | 第98-99页 |
| 第六章 换相测量法试验步骤的制定 | 第99-121页 |
| ·制定试验步骤遵循的准则 | 第99-100页 |
| ·按单元控制 | 第100-101页 |
| ·以循环移位为基础的控制 | 第101-104页 |
| ·控制的基本思想 | 第101-103页 |
| ·初始配相序列的选择 | 第103-104页 |
| ·以沃尔什函数为基础的控制 | 第104-111页 |
| ·沃尔什函数及性质 | 第104-107页 |
| ·以沃尔什函数为基础的控制 | 第107-110页 |
| ·以沃尔什函数为基础控制的精度分析 | 第110-111页 |
| ·最佳配相控制 | 第111-121页 |
| ·最佳控制的理论基础 | 第111-117页 |
| ·最佳控制的充要条件 | 第117页 |
| ·最佳控制配相的解析表达式 | 第117-121页 |
| 第七章 换相测量法的计算机仿真 | 第121-151页 |
| ·仿真模型及已知特性的确定 | 第121-125页 |
| ·计算机仿真模型的建立 | 第121-122页 |
| ·仿真模型已知特性的确定 | 第122-125页 |
| ·循环移位控制下换相法的计算机仿真 | 第125-133页 |
| ·计算机仿真步骤制定 | 第125-127页 |
| ·计算机仿真过程及仿真结果 | 第127-133页 |
| ·沃尔什函数控制下换相法的计算机仿真 | 第133-137页 |
| ·计算机仿真步骤制定 | 第133-134页 |
| ·一维相控阵天线快速测量全过程的计算值仿真 | 第134-137页 |
| ·最佳配相控制下换相法的计算机仿真 | 第137-148页 |
| ·计算机仿真步骤制定 | 第137-139页 |
| ·一维相控阵天线快速测量全过程的计算机仿真 | 第139-144页 |
| ·二维平面相控阵天线快速测量全过程的计算机仿真 | 第144-148页 |
| ·仿真结果分析 | 第148-151页 |
| 第八章 相控阵天线换相测量法的改进 | 第151-179页 |
| ·数学模型的改进 | 第151-153页 |
| ·UTE 算法 | 第153-154页 |
| ·CCE 算法 | 第154-157页 |
| ·SE 算法、UTE 算法和CCE 算法的性能分析 | 第157-162页 |
| ·计算机模拟 | 第162-179页 |
| ·计算机仿真步骤制定 | 第163-164页 |
| ·一维相控阵天线快速测量全过程的计算机仿真 | 第164-171页 |
| ·二维平面相控阵天线快速测量全过程的计算机仿真 | 第171-179页 |
| 第九章 测量系统的建立和误差分析 | 第179-191页 |
| ·相控阵天线快速测量系统的设备构成 | 第179-181页 |
| ·测试探头的最佳配置 | 第181-183页 |
| ·设备误差 | 第183-185页 |
| ·方法误差 | 第185-188页 |
| ·数学算法误差 | 第188页 |
| ·相控阵天线方向图的复原误差 | 第188-191页 |
| 第十章 全文总结 | 第191-193页 |
| 致谢 | 第193-195页 |
| 参考文献 | 第195-201页 |
| 在读期间的研究成果 | 第201-203页 |