基于显微图像的PTA粒径分布估计方法研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-24页 |
| ·研究背景 | 第13-16页 |
| ·激光粒度仪法 | 第13-14页 |
| ·筛分法 | 第14页 |
| ·沉降法 | 第14-16页 |
| ·图像处理与粒径分布测量 | 第16-20页 |
| ·图像处理在过程检测中的应用现状 | 第16-18页 |
| ·图像处理的一般方法 | 第18-19页 |
| ·图像处理方法在测量粒径分布中的应用 | 第19-20页 |
| ·本文主要研究内容 | 第20-21页 |
| ·论文结构 | 第21-24页 |
| 第2章 重叠图像的分割算法 | 第24-36页 |
| ·图像分割的原理 | 第24-25页 |
| ·现有的重叠图像分割方法 | 第25-27页 |
| ·基于分水岭的重叠图像分割方法 | 第25-26页 |
| ·基于形态学方法的重叠图像分割方法 | 第26-27页 |
| ·基于凹点匹配的重叠图像分割方法 | 第27页 |
| ·现有的凹点匹配算法 | 第27页 |
| ·改进的基于凹点匹配的重叠图像分割方法 | 第27-34页 |
| ·获取图像的边界轮廓 | 第28-31页 |
| ·图像预处理 | 第28-29页 |
| ·处理断裂边界 | 第29-31页 |
| ·搜寻边界凹点 | 第31页 |
| ·搜寻分割点 | 第31-32页 |
| ·选择代表凹点 | 第31页 |
| ·凹点匹配成功的条件 | 第31-32页 |
| ·模拟图像的实验结果 | 第32-33页 |
| ·PTA显微图像的实验结果 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-36页 |
| 第3章 PTA图像中面积的提取 | 第36-46页 |
| ·现有提取面积算法概述 | 第36-38页 |
| ·递归搜索法 | 第36-37页 |
| ·扫描标号法 | 第37-38页 |
| ·改进的提取像素面积算法 | 第38-43页 |
| ·深度优先遍历算法 | 第38-40页 |
| ·广度优先搜索算法 | 第40-41页 |
| ·整体搜索比较算法 | 第41-43页 |
| ·特殊颗粒的处理 | 第43-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 PTA粒径分布和体积分布的拟合 | 第46-62页 |
| ·统计学基本知识 | 第46-48页 |
| ·频数分布和频率分布 | 第46-47页 |
| ·频率直方图 | 第47-48页 |
| ·参数估计 | 第48-50页 |
| ·极大似然估计法 | 第49-50页 |
| ·基于最小二乘法对参数的估计 | 第50页 |
| ·PTA的粒径分布和体积分布参数估计 | 第50-56页 |
| ·PTA的频数直方图和频率直方图 | 第50-53页 |
| ·对PTA的粒径分布和体积分布进行极大似然估计 | 第53-55页 |
| ·利用最小二乘估计对PTA粒径分布结果进行拟合 | 第55-56页 |
| ·对拟合结果进行χ~2检验 | 第56-60页 |
| ·χ~2检验法的基本原理和步骤 | 第57页 |
| ·总体含未知参数的情形 | 第57-58页 |
| ·PTA粒径分布的假设检验 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第5章 实验结果分析 | 第62-78页 |
| ·实验设备及显微成像系统的标定 | 第62-65页 |
| ·获取测微尺图像 | 第63页 |
| ·测微尺图像的预处理 | 第63-64页 |
| ·测微尺图像的处理结果 | 第64-65页 |
| ·PTA图像的处理 | 第65-68页 |
| ·图像的预处理 | 第65页 |
| ·提取PTA图像中PTA颗粒的像素面积 | 第65-66页 |
| ·几幅代表PTA图像的处理结果 | 第66-68页 |
| ·可重复性和可再现性验证 | 第68-77页 |
| ·原始结果的对比 | 第69-71页 |
| ·体积分布和粒径分布拟合 | 第71-74页 |
| ·图像法和激光粒度仪法结果的对比 | 第74-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第6章 结论及展望 | 第78-80页 |
| ·本文总结 | 第78-79页 |
| ·展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 作者攻读硕士学位期间完成的论文及其他科研成果 | 第84页 |
