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嵌入式系统应用软件WCET测试技术研究

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第12-17页
    1.1 研究背景和意义第12-13页
    1.2 国内外研究现状第13-15页
    1.3 论文研究内容第15-16页
    1.4 论文结构第16-17页
第2章 嵌入式WCET测试基本知识第17-30页
    2.1 嵌入式测试与WCET测试第17-19页
        2.1.1 嵌入式系统简介第17页
        2.1.2 嵌入式测试第17-18页
        2.1.3 WCET测试第18-19页
    2.2 静态分析方法WCET高估原因分析第19-20页
        2.2.1 复杂的程序执行路径产生的高估第19页
        2.2.2 复杂的上下文执行环境产生的高估第19-20页
        2.2.3 底层硬件环境产生的WCET估值异常第20页
    2.3 WCET测试方法第20-25页
        2.3.1 测试方法分类第20-21页
        2.3.2 静态测试方法介绍第21-23页
        2.3.3 动态测试方法第23-24页
        2.3.4 WCET常用分析技术第24-25页
    2.4 WCET测试工具介绍第25-29页
        2.4.1 aiT静态分析工具第25-26页
        2.4.2 Bound-T静态分析工具第26-27页
        2.4.3 Singapore Chronos3开源测试工具第27页
        2.4.4 IRISA静态开源工具第27-28页
        2.4.5 SWEET (SWEdish Execution-Time Tool)第28页
        2.4.6 SymTA/P混合测试工具第28-29页
        2.4.7 RapiTime动态测试工具第29页
    2.5 小结第29-30页
第3章 一种基于关联进程通信的WCET测试方法第30-45页
    3.1 测试基本块第30-31页
    3.2 UNIX操作系统进程管道通信第31-33页
        3.2.1 进程通信第31-32页
        3.2.2 进程上下文切换时间第32-33页
    3.3 基于关联进程通信的WCET测试方法模型第33-34页
    3.4 基于关联进程通信算法误差分析第34-35页
    3.5 APC测试算法分析第35-38页
        3.5.1 APC算法第35-37页
        3.5.2 时间复杂度度第37-38页
    3.6 用例展示第38-39页
    3.7 实验结果展示第39-44页
        3.7.1 精确对比第39-40页
        3.7.2 分布曲线对比第40-41页
        3.7.3 APC测试方法与end-to-end直观对比第41-43页
        3.7.4 上下文切换时间测试对比第43-44页
    3.8 小结第44-45页
第4章 基于预估分析和MPA算法的WCET分析框架第45-56页
    4.1 静态预估可视化分析框架第45-46页
    4.2 MPA算法模型第46-50页
        4.2.1 MPA算法顶层分析第46-47页
        4.2.2 MPA算法介绍第47-49页
        4.2.3 测试基本块的定义第49-50页
    4.3 静态预估框架第50页
    4.4 用例展示第50-54页
    4.5 实验以及实验结果分析第54-55页
    4.6 小结第55-56页
结论第56-59页
参考文献第59-66页
致谢第66-67页
附录A (攻读学位期间发表的论文与获得的成果)第67-68页
附录B (攻读学位期间参加的科研项目)第68页

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