星载相控阵天线与校准网络技术研究
摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
符号对照表 | 第14-15页 |
缩略语对照表 | 第15-19页 |
第一章 绪论 | 第19-27页 |
1.1 星载相控阵天线与校准网络 | 第19-20页 |
1.1.1 星载相控阵天线 | 第19页 |
1.1.2 校准网络 | 第19-20页 |
1.2 国内外研究现状 | 第20-23页 |
1.2.1 星载相控阵天线研究现状 | 第20-22页 |
1.2.2 监测与校准技术研究现状 | 第22-23页 |
1.3 选题背景和意义 | 第23-24页 |
1.4 主要工作和内容安排 | 第24-27页 |
1.4.1 主要研究工作 | 第24页 |
1.4.2 内容安排 | 第24-27页 |
第二章 相关理论基础 | 第27-49页 |
2.1 引言 | 第27页 |
2.2 对称振子天线基本理论 | 第27-35页 |
2.2.1 基本结构 | 第27-28页 |
2.2.2 电流分布 | 第28-30页 |
2.2.3 辐射方向图 | 第30-33页 |
2.2.4 输入阻抗 | 第33-34页 |
2.2.5 平衡馈电 | 第34-35页 |
2.3 平面相控阵天线基本理论 | 第35-40页 |
2.3.1 平面相控阵天线原理 | 第36-38页 |
2.3.2 波束宽度 | 第38页 |
2.3.3 天线增益 | 第38-39页 |
2.3.4 阵元间距及栅瓣 | 第39页 |
2.3.5 阵元互耦 | 第39-40页 |
2.4 平面相控阵幅相监测与校准理论 | 第40-49页 |
2.4.1 幅相监测与校准的作用 | 第40-41页 |
2.4.2 幅相监测与校准的方法 | 第41-45页 |
2.4.3 平面近场监测校准流程 | 第45-46页 |
2.4.4 监测校准网络设计方法 | 第46-49页 |
第三章 相控阵天线阵列技术研究 | 第49-71页 |
3.1 引言 | 第49页 |
3.2 技术指标要求 | 第49-50页 |
3.3 难点分析 | 第50页 |
3.4 技术方案的选择 | 第50-53页 |
3.4.1 技术指标实现途径分析 | 第50-52页 |
3.4.2 实现方案的确定 | 第52-53页 |
3.5 相控阵天线结构 | 第53页 |
3.6 天线阵列仿真分析 | 第53-70页 |
3.6.1 辐射单元的仿真 | 第53-56页 |
3.6.2 5×5 子阵的仿真 | 第56-61页 |
3.6.3 16×16 阵列的仿真 | 第61-70页 |
3.7 研究结论 | 第70-71页 |
第四章 校准网络技术研究 | 第71-79页 |
4.1 引言 | 第71页 |
4.2 技术指标要求 | 第71页 |
4.3 难点分析 | 第71-72页 |
4.4 技术方案的选择 | 第72-73页 |
4.5 校准网络结构 | 第73页 |
4.6 监测校准网络仿真分析 | 第73-78页 |
4.6.1 SIW耦合器仿真 | 第73-74页 |
4.6.2 16 单元线阵耦合器仿真 | 第74-75页 |
4.6.3 SIW到微带线过渡仿真 | 第75-76页 |
4.6.4 串馈功分器仿真 | 第76-77页 |
4.6.5 校准网络与16单元线阵仿真 | 第77-78页 |
4.7 研究结论 | 第78-79页 |
第五章 天线工程样机及测量技术研究 | 第79-93页 |
5.1 天线工程样机 | 第79页 |
5.2 测试原理 | 第79-81页 |
5.2.1 阻抗特性测试原理和测试系统 | 第79-80页 |
5.2.2 隔离度测试原理和测试系统 | 第80页 |
5.2.3 方向图测试原理和测试系统 | 第80-81页 |
5.2.4 增益测试原理和测试系统 | 第81页 |
5.3 测试软硬件 | 第81-82页 |
5.4 测试结果 | 第82-91页 |
5.4.2 校准网络驻波比测试 | 第82-83页 |
5.4.3 阵列单元电压驻波比测试 | 第83-84页 |
5.4.4 校准网络耦合特性测试 | 第84-85页 |
5.4.5 单元方向图及增益测试 | 第85-89页 |
5.4.6 单元互耦测试 | 第89-91页 |
5.5 测试结论 | 第91-93页 |
第六章 结束语 | 第93-95页 |
6.1 论文主要研究成果 | 第93-94页 |
6.2 需要进一步研究问题 | 第94-95页 |
参考文献 | 第95-97页 |
致谢 | 第97-99页 |
作者简介 | 第99-101页 |