| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 背景 | 第11-31页 |
| 1.1 引言 | 第11-13页 |
| 1.2 软X射线纳米显微CT的特点及应用 | 第13-26页 |
| 1.2.1 X射线与物质的相互作用 | 第14-17页 |
| 1.2.2 国家同步辐射实验室低温软X射线纳米显微CT技术 | 第17-19页 |
| 1.2.3 软X射线纳米显微CT的应用 | 第19-26页 |
| 1.3 软X射线在细胞成像上的所面临的问题 | 第26-29页 |
| 1.3.1 角度缺失问题 | 第26-28页 |
| 1.3.2 细胞器识别的问题 | 第28-29页 |
| 1.4 论文的主要工作及内容的安排 | 第29-31页 |
| 第2章 软X射线纳米CT的前处理以及重构方法 | 第31-57页 |
| 2.1 软X射线纳米三维显微CT的前处理方法 | 第31-42页 |
| 2.1.1 投影图像的高精度对准方法 | 第33-40页 |
| 2.1.1.1 基于质心法的粗对准方法 | 第34-37页 |
| 2.1.1.2 基于多个基准参考点的高精度对准 | 第37-40页 |
| 2.1.2 冷冻样品的光强归一化 | 第40-42页 |
| 2.2 软X射线纳米三维显微CT的重构方法 | 第42-55页 |
| 2.2.1 X射线CT成像基本原理 | 第42-44页 |
| 2.2.1.1 X射线的投影原理 | 第42-43页 |
| 2.2.1.2 中心切片定理 | 第43-44页 |
| 2.2.2 滤波反投影方法 | 第44-46页 |
| 2.2.3 代数迭代重构方法 | 第46-50页 |
| 2.2.3.1 系统投影矩阵 | 第46-47页 |
| 2.2.3.2 ART算法 | 第47-48页 |
| 2.2.3.3 SART、SIRT算法 | 第48-50页 |
| 2.2.4 基于全变分的代数迭代重构算法 | 第50-55页 |
| 2.2.4.1 全变分方法 | 第51页 |
| 2.2.4.2 SART-TV与SIRT-TV算法 | 第51-54页 |
| 2.2.4.3 SART-TV算法的优化方案 | 第54-55页 |
| 2.3 本章小结 | 第55-57页 |
| 第3章 基于软X射线纳米CT成像的细胞器识别方法 | 第57-69页 |
| 3.1 基于线性吸收系数的细胞器识别方法 | 第57-58页 |
| 3.2 细胞样品的冷冻制备与成像参数 | 第58-59页 |
| 3.2.1 细胞样品的制备 | 第58页 |
| 3.2.2 细胞样品的快速冷冻 | 第58-59页 |
| 3.2.3 软X射线纳米三维显微CT成像实验 | 第59页 |
| 3.3 成像的实验结果 | 第59-68页 |
| 3.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第4章 针对角度缺失伪迹恢复的离散重构算法研究 | 第69-93页 |
| 4.1 离散代数迭代重构算法 | 第69-73页 |
| 4.2 针对角度缺失伪迹恢复的离散代数迭代算法 | 第73-80页 |
| 4.2.1 过分割图像 | 第75-76页 |
| 4.2.2 计算图像分割区域的区域值与连通性 | 第76-78页 |
| 4.2.2.1 计算评估相邻区域的连通性 | 第77-78页 |
| 4.2.2.2 计算图像区域的区域值 | 第78页 |
| 4.2.3 对伪迹区域的定位与更新 | 第78-80页 |
| 4.3 模拟实验及分析 | 第80-86页 |
| 4.4 噪声实验及分析 | 第86-90页 |
| 4.5 软X射线纳米三维显微CT成像实验 | 第90-91页 |
| 4.6 本章小结 | 第91-93页 |
| 第5章 总结与展望 | 第93-95页 |
| 参考文献 | 第95-102页 |
| 致谢 | 第102-103页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第103页 |