宽场超分辨光学闪烁成像技术研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 超分辨荧光显微成像技术概况 | 第10-11页 |
| 1.2 超分辨光学闪烁成像技术研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 课题主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第2章 超分辨光学闪烁成像基本原理 | 第18-34页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 超分辨光学闪烁成像理论模型 | 第18-27页 |
| 2.2.1 二阶超分辨光学闪烁成像理论模型 | 第18-24页 |
| 2.2.2 高阶超分辨光学闪烁成像理论模型 | 第24-27页 |
| 2.3 均衡超分辨光学闪烁成像原理 | 第27-33页 |
| 2.3.1 荧光样品强度差异对SOFI的影响 | 第27-28页 |
| 2.3.2 均衡超分辨光学闪烁成像 | 第28-31页 |
| 2.3.3 频域加权方法 | 第31-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 超分辨光学闪烁成像中的噪声抑制 | 第34-52页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 CCD噪声概括 | 第34-40页 |
| 3.2.1 高斯噪声 | 第35-38页 |
| 3.2.2 散粒噪声 | 第38-40页 |
| 3.3 散粒噪声的抑制 | 第40-51页 |
| 3.3.1 时延自累积量SOFI | 第40-42页 |
| 3.3.2 时空互累积量SOFI | 第42-45页 |
| 3.3.3 基于低通去噪的零时延自累积量SOFI | 第45-51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 CCD像素尺寸对SOFI分辨率的限制 | 第52-59页 |
| 4.1 引言 | 第52页 |
| 4.2 像素尺寸对SOFI成像分辨率的限制 | 第52-53页 |
| 4.3 时空互累积量 | 第53-55页 |
| 4.3.1 时空互累积量增加像素原理 | 第53-54页 |
| 4.3.2 伪影校正 | 第54-55页 |
| 4.4 傅里叶插值方法 | 第55-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 超分辨光学闪烁成像实验 | 第59-75页 |
| 5.1 引言 | 第59页 |
| 5.2 超分辨光学闪烁成像实验系统设计 | 第59-63页 |
| 5.2.1 数据采集实验平台设计 | 第59-61页 |
| 5.2.2 数据采集控制程序设计 | 第61-63页 |
| 5.3 超分辨光学闪烁成像实验验证 | 第63-70页 |
| 5.3.1 累积量与相关函数实验结果对比 | 第63-65页 |
| 5.3.2 均衡超分辨光学闪烁成像实验 | 第65-67页 |
| 5.3.3 不同累积量计算方法实验结果对比 | 第67-69页 |
| 5.3.4 傅里叶插值方法实验结果 | 第69-70页 |
| 5.4 横向分辨率测试实验 | 第70-71页 |
| 5.5 三维超分辨光学闪烁成像实验 | 第71-74页 |
| 5.6 本章小结 | 第74-75页 |
| 结论 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文及其它成果 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
