| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第16-37页 |
| 1.1 课题背景及研究目的和意义 | 第16-17页 |
| 1.2 铜锌锡硫和铜锌锡硒薄膜晶体结构 | 第17-19页 |
| 1.3 铜锌锡硫和铜锌锡硒晶体的性质 | 第19-24页 |
| 1.4 光吸收性薄膜材料的研究现状 | 第24-32页 |
| 1.4.1 二元吸光性薄膜材料 | 第25页 |
| 1.4.2 三元吸光性薄膜材料 | 第25-26页 |
| 1.4.3 四元吸光性薄膜材料 | 第26-32页 |
| 1.5 目前研究面临的问题 | 第32-34页 |
| 1.6 本文的主要研究内容 | 第34-37页 |
| 第2章 溶胶凝胶法制备CZTSe和CZTS薄膜工艺探索 | 第37-46页 |
| 2.1 引言 | 第37页 |
| 2.2 实验原料及设备 | 第37-39页 |
| 2.2.1 实验原料 | 第37-38页 |
| 2.2.2 实验设备和测试仪器 | 第38-39页 |
| 2.3 实验条件 | 第39-42页 |
| 2.3.1 基本工艺参数 | 第39-40页 |
| 2.3.2 实验步骤及工艺流程 | 第40-42页 |
| 2.4 薄膜材料的结构及性能表征 | 第42-46页 |
| 2.4.1 形貌表征方法 | 第42-43页 |
| 2.4.2 结构表征方法 | 第43页 |
| 2.4.3 光学性能表征方法 | 第43-44页 |
| 2.4.4 应用性能表征方法 | 第44-46页 |
| 第3章 以硫化锌为硫源制备CZTSe薄膜及其光吸收性能研究 | 第46-68页 |
| 3.1 引言 | 第46页 |
| 3.2 CZTSe薄膜制备 | 第46-47页 |
| 3.3 CZTSe样品I薄膜结构及性能分析 | 第47-54页 |
| 3.3.1 薄膜表面形貌分析 | 第47-49页 |
| 3.3.2 薄膜晶体结构分析 | 第49-50页 |
| 3.3.3 薄膜透射电镜下结构分析 | 第50-51页 |
| 3.3.4 薄膜光吸收系数及带隙宽度分析 | 第51-52页 |
| 3.3.5 薄膜拉曼光谱分析 | 第52-53页 |
| 3.3.6 薄膜光致发光光谱分析 | 第53-54页 |
| 3.4 不同硒源制得的CZTSe薄膜 | 第54-67页 |
| 3.4.1 不同硒源制得的CZTSe薄膜表面形貌 | 第54-61页 |
| 3.4.2 不同硒源制得的CZTSe薄膜晶体结构分析 | 第61-63页 |
| 3.4.3 不同硒源制得的CZTSe薄膜拉曼光谱分析 | 第63-65页 |
| 3.4.4 不同硒源制得的CZTSe薄膜带隙宽度 | 第65-67页 |
| 3.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第4章 以醋酸铜和醋酸锌及硫化锌制备CZTS薄膜及光吸收性研究 | 第68-94页 |
| 4.1 引言 | 第68-69页 |
| 4.2 CZTS薄膜制备 | 第69页 |
| 4.2.1 CZT薄膜 | 第69页 |
| 4.2.2 CZTS薄膜 | 第69页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第69-86页 |
| 4.3.1 CZTS薄膜低倍放大下的表面形态 | 第69-71页 |
| 4.3.2 CZTS薄膜形貌分析 | 第71-73页 |
| 4.3.3 CZTS薄膜物相结构分析 | 第73-74页 |
| 4.3.4 CZTS薄膜晶体结构分析 | 第74-76页 |
| 4.3.5 CZTS薄膜元素组分分析 | 第76-77页 |
| 4.3.6 CZTS薄膜透光性分析 | 第77-78页 |
| 4.3.7 CZTS薄膜带隙宽度分析 | 第78-81页 |
| 4.3.8 CZTS薄膜拉曼光谱分析 | 第81-82页 |
| 4.3.9 CZTS薄膜光致发光光谱分析 | 第82-83页 |
| 4.3.10 CZTS薄膜荧光性分析 | 第83-85页 |
| 4.3.11 CZTS薄膜红外光谱分析 | 第85-86页 |
| 4.4 CZTS薄膜的钙离子掺杂改性 | 第86-92页 |
| 4.5 本章小结 | 第92-94页 |
| 第5章 以氯化铜和氯化锌及硫化锌制备CZTS薄膜及光吸收性研究 | 第94-125页 |
| 5.1 引言 | 第94页 |
| 5.2 CZTS-I薄膜制备 | 第94-95页 |
| 5.3 实验结果与分析 | 第95-118页 |
| 5.3.1 CZTS-I薄膜低倍放大下表面形态 | 第95-96页 |
| 5.3.2 CZTS-I薄膜表面形貌分析 | 第96-98页 |
| 5.3.3 CZTS-I薄膜物相结构分析 | 第98-99页 |
| 5.3.4 CZTS-I薄膜晶体结构分析 | 第99-101页 |
| 5.3.5 CZTS-I薄膜拉曼光谱分析 | 第101-102页 |
| 5.3.6 CZTS-I薄膜元素组分分析 | 第102-104页 |
| 5.3.7 CZTS-I薄膜光吸收系数及带隙宽度分析 | 第104-110页 |
| 5.3.8 CZTS-I薄膜在不同厚度下的带隙宽度 | 第110-115页 |
| 5.3.9 CZTS-I薄膜光致发光光谱分析 | 第115页 |
| 5.3.10 CZTS-I薄膜荧光性分析 | 第115-117页 |
| 5.3.11 CZTS-I薄膜红外光谱分析 | 第117-118页 |
| 5.4 CZTS-I薄膜初步应用 | 第118-123页 |
| 5.4.1 CZTS-I薄膜的霍尔效应 | 第118-119页 |
| 5.4.2 CZTS-I薄膜印刷涂层评估体系 | 第119-123页 |
| 5.5 本章小结 | 第123-125页 |
| 结论 | 第125-128页 |
| 参考文献 | 第128-142页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及其他成果 | 第142-144页 |
| 致谢 | 第144-145页 |
| 个人简历 | 第145页 |
