用于清创的重复脉冲等离子体控制研究
摘要 | 第6-7页 |
abstract | 第7页 |
第1章 绪论 | 第11-20页 |
1.1 重复脉冲等离子体的市场价值 | 第11-14页 |
1.2 重复脉冲等离子体的学术价值 | 第14-15页 |
1.3 课题研究的目的和意义 | 第15-16页 |
1.4 等离子体的国内外研究现状 | 第16-18页 |
1.4.1 等离子体的国外研究现状 | 第16-17页 |
1.4.2 等离子体的国内研究现状 | 第17-18页 |
1.5 研究的主要内容 | 第18-19页 |
1.6 本章小结 | 第19-20页 |
第2章 重复脉冲等离子体设备 | 第20-37页 |
2.1 等离子体电源的拓扑选型 | 第20-21页 |
2.2 输入滤波整流电路 | 第21页 |
2.3 全桥电路的设计 | 第21-26页 |
2.3.1 LTC3722-1芯片及其外围电路 | 第22-25页 |
2.3.2 全桥逆变电路 | 第25-26页 |
2.4 高频变压器的设计 | 第26-29页 |
2.4.1 磁芯材料的选择 | 第26-27页 |
2.4.2 变压器参数的计算 | 第27-29页 |
2.5 主功率管的选择 | 第29-30页 |
2.6 芯片LTC3722-1的控制回路 | 第30-34页 |
2.6.1 采样回路 | 第30-31页 |
2.6.2 误差放大器 | 第31-32页 |
2.6.3 电源开环增益的测量 | 第32-34页 |
2.7 一次性射频等离子体电极设计 | 第34-36页 |
2.7.1 电极结构设计 | 第34-35页 |
2.7.2 参数测试 | 第35-36页 |
2.8 本章小结 | 第36-37页 |
第3章 重复脉冲等离子体设备的性能测试 | 第37-52页 |
3.1 实验步骤及现象 | 第38-40页 |
3.2 等离子体设备放电特性具体分析 | 第40-45页 |
3.2.1 强度1等离子体设备放电特性分析 | 第40-42页 |
3.2.2 强度4等离子体设备放电特性分析 | 第42-44页 |
3.2.3 强度6等离子体设备放电特性分析 | 第44-45页 |
3.3 不同强度等离子体设备放电特性对比 | 第45-47页 |
3.3.1 同一电极电压电流特性对比 | 第45-46页 |
3.3.2 同一电极不同强度功率特性对比 | 第46-47页 |
3.4 不同结构电极放电特性对比 | 第47-51页 |
3.4.1 不同结构电极放电功率特性对比 | 第47-49页 |
3.4.2 不同结构电极放电阻抗特性对比 | 第49-51页 |
3.5 本章小结 | 第51-52页 |
第4章 等离子体放电模型的建立 | 第52-61页 |
4.1 等离子体放电实验 | 第52-53页 |
4.1.1 实验过程 | 第52页 |
4.1.2 实验结果 | 第52-53页 |
4.2 等离子体放电模型建立 | 第53-60页 |
4.2.1 时域分析法 | 第53-54页 |
4.2.2 放电机理法 | 第54-60页 |
4.3 本章小结 | 第60-61页 |
第5章 清创实验研究 | 第61-67页 |
5.1 清创设备的研究现状 | 第61-62页 |
5.2 等离子体清创实验装置图 | 第62页 |
5.3 近似烧伤猪皮实验 | 第62-63页 |
5.4 小鼠实验 | 第63-66页 |
5.4.1 实验方案 | 第63-65页 |
5.4.2 实验结果 | 第65-66页 |
5.5 本章小结 | 第66-67页 |
总结 | 第67-69页 |
一、全文工作与研究成果 | 第67页 |
二、本文不足之处与展望 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和取的科研成果 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |