T型三电平逆变器功率器件结温与容错控制研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外关于逆变器可靠性的研究进展 | 第8-16页 |
| 1.2.1 逆变器拓扑结构的研究现状 | 第9-11页 |
| 1.2.2 功率器件的可靠性研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.3 容错控制技术研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 论文中的关键问题及主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.3.1 论文中的关键问题 | 第16-17页 |
| 1.3.2 论文的主要研究内容 | 第17页 |
| 1.4 本章小结 | 第17-18页 |
| 第二章 T型三电平逆变器的工作原理及控制策略 | 第18-32页 |
| 2.1 引言 | 第18页 |
| 2.2 T型三电平并网逆变器工作原理 | 第18-24页 |
| 2.3 T型三电平逆变器调制策略 | 第24-29页 |
| 2.3.1 SVPWM的调制原理 | 第24-28页 |
| 2.3.2 SVPWM的仿真分析 | 第28-29页 |
| 2.4 T型三电平并网逆变器的控制方法 | 第29-31页 |
| 2.4.1 双闭环控制理论分析 | 第29-30页 |
| 2.4.2 双闭环控制仿真模型 | 第30-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 T型三电平逆变器功率器件结温控制策略研究 | 第32-43页 |
| 3.1 引言 | 第32页 |
| 3.2 IGBT损耗模型 | 第32-36页 |
| 3.2.1 IGBT开通过程 | 第32-33页 |
| 3.2.2 IGBT关断过程 | 第33-34页 |
| 3.2.3 二极管反向恢复过程 | 第34-35页 |
| 3.2.4 IGBT/FRD开关损耗模型 | 第35-36页 |
| 3.3 IGBT结温模型 | 第36-37页 |
| 3.4 结温控制策略 | 第37-42页 |
| 3.4.1 多重化结构拓扑 | 第38-41页 |
| 3.4.2 多重化结构优化模型 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 T型三电平逆变器开路故障容错控制研究 | 第43-51页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 T型三电平逆变器故障分析 | 第43-46页 |
| 4.2.1 单管发生开路 | 第43-45页 |
| 4.2.2 双管发生开路 | 第45-46页 |
| 4.2.3 三管发生开路 | 第46页 |
| 4.3 T型三电平逆变器容错策略 | 第46-49页 |
| 4.4 容错策略仿真分析 | 第49-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 T型三电平逆变器实验平台 | 第51-64页 |
| 5.1 引言 | 第51页 |
| 5.2 实验平台硬件电路 | 第51-57页 |
| 5.2.1 主功率电路 | 第52-53页 |
| 5.2.2 驱动电路 | 第53-54页 |
| 5.2.3 信号采样电路 | 第54-55页 |
| 5.2.4 DSP+FPGA联合控制电路 | 第55-57页 |
| 5.3 实验平台软件流程 | 第57-59页 |
| 5.3.1 DSP程序流程 | 第57-58页 |
| 5.3.2 FPGA程序流程 | 第58-59页 |
| 5.4 实验平台验证波形 | 第59-61页 |
| 5.5 控制策略验证 | 第61-63页 |
| 5.5.1 结温控制效果实验验证 | 第61-62页 |
| 5.5.2 容错控制策略实验验证 | 第62-63页 |
| 5.6 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 总结与展望 | 第64-66页 |
| 6.1 总结 | 第64页 |
| 6.2 展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第71页 |
