强流脉冲环境下的辐射干扰及抑制措施研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第12-14页 |
| 2 系统组成及电磁兼容初步分析 | 第14-20页 |
| 2.1 系统组成 | 第14页 |
| 2.2 干扰源与干扰途径 | 第14-17页 |
| 2.3 放电电流的仿真分析 | 第17-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 3 脉冲电抗器的三维有限元建模与仿真 | 第20-34页 |
| 3.1 有限元法简介 | 第20-21页 |
| 3.2 Ansoft Maxwell 软件简介 | 第21-27页 |
| 3.3 脉冲电抗器的建模与仿真 | 第27-29页 |
| 3.4 辐射干扰源在仿真中的简化处理 | 第29-30页 |
| 3.5 脉冲环境下机壳内磁场的分布 | 第30-33页 |
| 3.6 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 机壳的屏蔽效能研究 | 第34-52页 |
| 4.1 机壳材质对脉冲磁场屏蔽效能的影响 | 第35-42页 |
| 4.2 机箱结构对屏蔽效能的影响 | 第42-50页 |
| 4.3 本章小结 | 第50-52页 |
| 5 机壳内接收回路与磁场的耦合 | 第52-57页 |
| 5.1 骚扰的近场耦合路径的集中参数分析法 | 第52-54页 |
| 5.2 机壳内接收回路的感应电压仿真 | 第54-56页 |
| 5.3 本章小结 | 第56-57页 |
| 6 结束语 | 第57-59页 |
| 6.1 全文总结 | 第57-58页 |
| 6.2 本文不足与后续研究 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
