摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第10-11页 |
1.2 导引头伺服系统测试技术的现状及其发展 | 第11-14页 |
1.2.1 导引头伺服系统测试技术研究现状 | 第11-12页 |
1.2.2 国内外文献综述简析 | 第12-14页 |
1.3 本文的主要研究内容 | 第14-15页 |
第2章 基于光电测量的导引头伺服系统测试方案 | 第15-25页 |
2.1 导引头伺服系统的组成和工作原理 | 第15-17页 |
2.1.1 导引头伺服系统组成 | 第15-16页 |
2.1.2 伺服系统的工作原理 | 第16-17页 |
2.2 伺服系统控制精度性能分析 | 第17-18页 |
2.3 基于光电测量的导引头伺服系统测试系统 | 第18-24页 |
2.3.1 测试系统结构与工作原理 | 第18-19页 |
2.3.2 主要技术参数 | 第19-20页 |
2.3.3 功能模块设计与选型 | 第20-24页 |
2.4 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 基于标定和插值的图像畸变校正方法 | 第25-34页 |
3.1 引言 | 第25-26页 |
3.2 构建图像畸变模型 | 第26-28页 |
3.2.1 图像畸变的形成 | 第26-27页 |
3.2.2 图像畸变模型 | 第27-28页 |
3.3 图像畸变校正处理 | 第28-31页 |
3.3.1 基于控制点现场定标的校正系数求解 | 第28-29页 |
3.3.2 基于双线性插值的图像重构 | 第29-31页 |
3.4 基于现场标定与多项式插值的图像畸变校正算法实现 | 第31-33页 |
3.4.1 算法实现步骤 | 第31-32页 |
3.4.2 仿真实验与分析 | 第32-33页 |
3.5 本章小结 | 第33-34页 |
第4章 基于图像处理的伺服系统性能参数测试技术 | 第34-50页 |
4.1 引言 | 第34页 |
4.2 基于自适应门限的光斑图像分割 | 第34-37页 |
4.3 基于自适应迭代的光斑高精度定位 | 第37-42页 |
4.3.1 自适应迭代跟踪方法 | 第37-41页 |
4.3.2 仿真实验与分析 | 第41-42页 |
4.4 光斑运动轨迹的曲线拟合技术 | 第42-47页 |
4.4.1 最小二乘曲线拟合方法 | 第42-45页 |
4.4.2 仿真实验 | 第45-47页 |
4.5 伺服系统性能参数测试原理和测试方法 | 第47-49页 |
4.5.1 位置精度解算 | 第47-48页 |
4.5.2 速度精度计算 | 第48页 |
4.5.3 去耦系数的求解 | 第48-49页 |
4.6 本章小结 | 第49-50页 |
第5章 伺服系统光电成像测试系统软件设计与应用 | 第50-61页 |
5.1 光电成像测试系统软件组成 | 第50页 |
5.2 系统标校设计与实现 | 第50-54页 |
5.2.1 位置标定方法 | 第50-52页 |
5.2.2 光电图像几何畸变标校 | 第52-53页 |
5.2.3 像素角分辨率/角速度标定求解方法 | 第53-54页 |
5.3 数据采集子模块设计与软件实现 | 第54-57页 |
5.3.1 数据存储技术规划设计 | 第54-55页 |
5.3.2 数据采集子模块设计与实现 | 第55-56页 |
5.3.3 数据记录浏览子模块设计 | 第56-57页 |
5.4 数据分析模块设计与实现 | 第57-59页 |
5.4.1 数据分析子模块设计与软件实现 | 第57-58页 |
5.4.2 解耦系数计算子模块设计与实现 | 第58-59页 |
5.5 实验测试 | 第59-60页 |
5.5.1 功能正常性检查 | 第59页 |
5.5.2 光电成像系统高速摄像机帧频、图像尺寸测试 | 第59-60页 |
5.5.3 角度及角速度测量精度测试 | 第60页 |
5.6 本章小结 | 第60-61页 |
结论 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-66页 |
致谢 | 第66-67页 |
个人简历 | 第67页 |