首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--计算技术、计算机技术论文--电子数字计算机(不连续作用电子计算机)论文--运算器和控制器(CPU)论文

高性能SDXC卡主控制器设计与软件验证

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第9-15页
    1.1 选题来源及背景介绍第9-10页
    1.2 SD卡发展概况介绍第10-12页
    1.3 选题目的及价值介绍第12页
    1.4 论文主要工作介绍第12-13页
    1.5 论文结构安排第13-15页
第二章 SDXC卡规范介绍第15-47页
    2.1 SDXC卡引脚及时序介绍第15-20页
    2.2 卡内部结构及操作流程介绍第20-23页
        2.2.1 卡的内部寄存器介绍第20-22页
        2.2.2 卡内存结构介绍第22-23页
    2.3 卡内部状态介绍第23-46页
        2.3.1 卡初始化模式第23-31页
            2.3.1.1 Reset SDXC卡第24页
            2.3.1.2 卡操作电压验证第24-28页
            2.3.1.3 电压却换第28-30页
            2.3.1.4 询问RCA第30-31页
        2.3.2 数据传输模式第31-44页
            2.3.2.1 数据位宽配置第32页
            2.3.2.2 速度模式却换第32-40页
            2.3.2.3 读写数据操作第40-44页
        2.3.3 错误类型介绍第44-46页
            2.3.3.1 CRC错误和非法命令第44-45页
            2.3.3.2 数据传输阶段的错误操作第45-46页
    2.4 本章小结第46-47页
第三章 模块划分和功能实现第47-80页
    3.1 端.及时序要求第48-54页
        3.1.1 时钟第48页
        3.1.2 RGST总线第48-50页
        3.1.3 OCP总线第50-51页
        3.1.4 中断信号第51-53页
        3.1.5 SDXC卡接.信号第53-54页
    3.2 卡控制器模块第54-71页
        3.2.1 时钟产生电路第54-56页
        3.2.2 控制状态电路第56-71页
            3.2.2.1 TxCMD状态第58-62页
            3.2.2.2 RxRsp状态第62-66页
            3.2.2.3 TxDat状态第66-67页
            3.2.2.4 CrdCRC状态第67-69页
            3.2.2.5 RxDat状态第69页
            3.2.2.6 TxDummy状态第69-71页
    3.3 DMA控制模块介绍第71-78页
    3.4 穿频电路模块第78-79页
    3.5 本章小结第79-80页
第四章 低功耗设计方案与实现第80-85页
    4.1 多时钟设计第80-81页
    4.2 门控时钟设计第81-84页
    4.3 本章小结第84-85页
第五章 性能与功耗测试分析第85-100页
    5.1 测试平台第85页
    5.2 测试用软件代码第85-98页
    5.3 性能测试与分析第98页
    5.4 功耗测试与分析第98-100页
第六章 结论第100-102页
    6.1 本设计特色及创新点第100页
    6.2 下一步工作展望第100-102页
致谢第102-103页
参考文献第103-105页

论文共105页,点击 下载论文
上一篇:中小商户的运营管理系统的设计与实现
下一篇:基于USB总线的硬盘测试设备设计