| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 前言 | 第8-9页 |
| 第一章 文献综述 | 第9-26页 |
| 1.1 有机晶体多晶型的研究 | 第9-15页 |
| 1.1.1 多晶型现象 | 第9页 |
| 1.1.2 晶型转化与控制方法 | 第9-11页 |
| 1.1.3 药物多晶型研究现状 | 第11-14页 |
| 1.1.4 甲糖宁多晶型研究 | 第14-15页 |
| 1.2 自组装膜(SAMs)概述 | 第15-20页 |
| 1.2.1 自组装膜结构 | 第15-17页 |
| 1.2.2 自组装膜形成机理 | 第17-19页 |
| 1.2.3 自组装膜表面化学反应 | 第19-20页 |
| 1.3 自组装膜技术引导晶体成核与生长 | 第20-24页 |
| 1.3.1 自组装膜调控结晶的机理 | 第20-21页 |
| 1.3.2 自组装膜调控结晶的研究进展 | 第21-24页 |
| 1.3.3 自组装膜调控药物结晶的理论和现实意义 | 第24页 |
| 1.4 本文研究思路 | 第24-26页 |
| 第二章 实验部分 | 第26-32页 |
| 2.1 实验器材 | 第26-28页 |
| 2.1.1 实验药品及试剂 | 第26-27页 |
| 2.1.2 实验设备 | 第27-28页 |
| 2.1.3 实验基片 | 第28页 |
| 2.2 实验流程 | 第28-30页 |
| 2.2.1 基片的预处理 | 第28页 |
| 2.2.2 SAMs-Si-3-NH_2膜层的组装 | 第28-29页 |
| 2.2.3 SAMs-Si-3-NHS0_2-Ph-CH_3膜层的组装 | 第29页 |
| 2.2.4 SAMs-Si-3-NHS0_2-biPh膜层的组装 | 第29页 |
| 2.2.5 SAMs-Si-3-NHS0_2-Ph-CF_3膜层的组装 | 第29页 |
| 2.2.6 甲糖宁冷却结晶实验 | 第29-30页 |
| 2.3 样品表征 | 第30-32页 |
| 2.3.1 SAMs表面接触角分析 | 第30页 |
| 2.3.2 SAMs表面元素的X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第30页 |
| 2.3.3 SAMs表面结构的衰减全反射红外(FTIR-ATR)分析 | 第30-31页 |
| 2.3.4 晶体结构的X射线衍射(XRD)分析 | 第31页 |
| 2.3.5 晶体结构的差示扫描量热(DSC)分析 | 第31页 |
| 2.3.6 晶体形貌的偏光显微图像分析 | 第31页 |
| 2.3.7 溶液浓度的紫外-可见光谱定量分析 | 第31-32页 |
| 第三章 硅烷在基底表面的自组装及功能化 | 第32-45页 |
| 3.1 功能分子的选择与SAMs的设计 | 第32-33页 |
| 3.2 SAMs-Si-3-NH_2的表征 | 第33-36页 |
| 3.2.1 接触角的测量 | 第33-34页 |
| 3.2.2 表面元素的XPS表征 | 第34-36页 |
| 3.3 SAMs-Si-3-NHS0_2-Ph-CH_3的表征 | 第36-38页 |
| 3.3.1 接触角的测量 | 第36页 |
| 3.3.2 表面元素的XPS表征 | 第36-37页 |
| 3.3.3 表面结构的FTIR-ATR表征 | 第37-38页 |
| 3.3.4 自组装膜稳定性分析 | 第38页 |
| 3.4 SAMs-Si-3-NHS0_2-biPh的表征 | 第38-41页 |
| 3.4.1 接触角的测量 | 第38-39页 |
| 3.4.2 表面元素的XPS表征 | 第39-40页 |
| 3.4.3 表面结构的FTIR-ATR表征 | 第40-41页 |
| 3.4.4 自组装膜稳定性分析 | 第41页 |
| 3.5 SAMs-Si-3-NHS0_2-Ph-CF_3的表征 | 第41-43页 |
| 3.5.1 接触角的测量 | 第41页 |
| 3.5.2 表面元素的XPS表征 | 第41-43页 |
| 3.5.3 表面结构的FTIR-ATR表征 | 第43页 |
| 3.5.4 自组装膜稳定性分析 | 第43页 |
| 3.6 本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 自组装膜对甲糖宁晶型的调节 | 第45-64页 |
| 4.1 甲糖宁原料晶型的考察 | 第45-46页 |
| 4.2 甲糖宁溶解度的测定 | 第46-47页 |
| 4.3 甲糖宁在自组装膜表面的结晶 | 第47-60页 |
| 4.3.1 甲糖宁在溶液中的结晶 | 第47-49页 |
| 4.3.2 甲糖宁在SAMs-Si-3-NHS0_2-Ph-CH_3表面的结晶 | 第49-52页 |
| 4.3.3 甲糖宁在SAMs-Si-3-NHSO_2-biPh表面的结晶 | 第52-55页 |
| 4.3.4 甲糖宁在SAMs-Si-3-NHSO_2-Ph-CF_3表面的结晶 | 第55-58页 |
| 4.3.5 甲糖宁在空白基底表面的对比结晶 | 第58-59页 |
| 4.3.6 甲糖宁晶体形貌考察 | 第59-60页 |
| 4.4 甲糖宁晶型、构象与界面作用 | 第60-63页 |
| 4.4.1 Ⅰ、Ⅲ晶型 | 第60-62页 |
| 4.4.2 Ⅳ晶型 | 第62-63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 5.1 结论 | 第64-65页 |
| 5.2 展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
