| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| 1.1 课题的意义及国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.1.1 课题的来源及研究意义 | 第10页 |
| 1.1.2 国内外研究现状综述 | 第10-11页 |
| 1.2 6Sigma 的起源 | 第11-13页 |
| 1.3 6Sigma 的管理方法和程序 | 第13-16页 |
| 1.3.1 6sigma设计（DMADV） | 第13-14页 |
| 1.3.2 6sigma改进（DMAIC） | 第14-15页 |
| 1.3.3 DMADV 与 DMAIC 差异 | 第15-16页 |
| 1.4 6sigma 管理的常用工具 | 第16-20页 |
| 1.5 6Sigma 管理的特点 | 第20-21页 |
| 1.6 主要内容 | 第21-22页 |
| 第二章 自动插针的制程分解及不良模式定义 | 第22-33页 |
| 2.1 自动插针制程分解 | 第22-25页 |
| 2.1.1 动作原理介绍 | 第22页 |
| 2.1.2 结构介绍 | 第22-23页 |
| 2.1.3 机台各工站介绍 | 第23-25页 |
| 2.2 产品应用介绍及结构分解 | 第25-26页 |
| 2.3 不良模式定义和确定 | 第26-33页 |
| 2.3.1 主要不良项目筛选---柏拉图法 | 第26-27页 |
| 2.3.2 鱼骨图---寻找要因 | 第27-28页 |
| 2.3.3 5why 分析法---寻找真因 | 第28-29页 |
| 2.3.4 回归分析 | 第29页 |
| 2.3.5 影响不良模式的 KPIV | 第29-33页 |
| 2.3.5.1 SIPOC 定义 | 第30-31页 |
| 2.3.5.2 原因和效应矩阵定义 | 第31-33页 |
| 第三章 对不良模式 KPIVs 的研究 | 第33-44页 |
| 3.1 尺寸公差分析 | 第33-42页 |
| 3.1.1 尺寸链 | 第33-34页 |
| 3.1.2 最差情况法（Worst Case Method） /（极值法） | 第34-35页 |
| 3.1.3 统计公差分析法（Statistical Method） | 第35-40页 |
| 3.1.3.1 正态分布 | 第36-37页 |
| 3.1.3.2 统计公差分析 | 第37-40页 |
| 3.1.4 零件尺寸公差分析 | 第40-41页 |
| 3.1.5 装配结构改善及公差分析 | 第41-42页 |
| 3.2 端子折 carry（料带）和端子整形分析 | 第42-43页 |
| 3.2.1 预插过程分析 | 第42页 |
| 3.2.2 整形过程分析 | 第42-43页 |
| 3.3 AOI（自动检测）异常分析 | 第43页 |
| 3.3.1 AOI 工作原理 | 第43页 |
| 3.3.2 AOI 取像异常 | 第43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 实验设计在插针工艺优化中应用 | 第44-64页 |
| 4.1 实验设计（DOE）方法详述 | 第44-48页 |
| 4.2 实验设计适用软件环境 | 第48-50页 |
| 4.2.1 响应曲面实验简要步骤 | 第49-50页 |
| 4.2.2 实验设计过程中的问题 | 第50页 |
| 4.3 实验设备及材料选择 | 第50页 |
| 4.4 工艺优化现状及关键因子选择 | 第50-51页 |
| 4.5 确定工艺优化目标 | 第51-52页 |
| 4.6 制定详细实验计划 | 第52-61页 |
| 4.7 模型建立及参数优化 | 第61-63页 |
| 4.8 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 KPIVs 管制及改进效果确认 | 第64-68页 |
| 5.1 KPIVs 管制 | 第64页 |
| 5.1.1 管制计划 | 第64页 |
| 5.1.2 管制实施 | 第64页 |
| 5.2 改进效果分析 | 第64-66页 |
| 5.3 制造过程能力分析 | 第66页 |
| 5.4 经济效益统计 | 第66-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 结论与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 结论 | 第68-69页 |
| 6.2 本文的不足及展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第73页 |