应用于TD-SCDMA/LTE标准的连续时间Δ-Σ ADC的研究与设计
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第19-35页 |
| 1.1 课题简介 | 第19-22页 |
| 1.2 Δ-Σ ADC历史及研究现状 | 第22-31页 |
| 1.2.1 Δ-Σ ADC的发展历史 | 第22-24页 |
| 1.2.2 宽带、多模 Δ-Σ ADC研究现状 | 第24-31页 |
| 1.3 课题研究目标及内容 | 第31-34页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第34-35页 |
| 第二章 Δ-Σ ADC的基本原理 | 第35-48页 |
| 2.1 ADC的基本原理 | 第35-38页 |
| 2.1.1 采样 | 第35-36页 |
| 2.1.2 量化 | 第36-38页 |
| 2.2 Δ-Σ ADC | 第38-45页 |
| 2.2.1 Δ-Σ ADC的基本原理 | 第38-42页 |
| 2.2.2 Δ-Σ ADC的类型 | 第42-45页 |
| 2.3 Δ-Σ ADC的性能指标 | 第45-47页 |
| 2.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 第三章 连续时间 Δ-Σ ADC的系统设计 | 第48-69页 |
| 3.1 接收机结构选择 | 第48-54页 |
| 3.1.1 超外差式接收机 | 第48-49页 |
| 3.1.2 直接变频接收机 | 第49-50页 |
| 3.1.3 数字中频接收机 | 第50-51页 |
| 3.1.4 本设计的接收机结构 | 第51-54页 |
| 3.2 ADC性能指标要求 | 第54-58页 |
| 3.2.1 系统噪声计算 | 第54-56页 |
| 3.2.2 ADC动态范围计算 | 第56-58页 |
| 3.3 调制器的系统设计 | 第58-68页 |
| 3.3.1 调制器结构的选择 | 第58-59页 |
| 3.3.2 系统传递函数设计 | 第59-63页 |
| 3.3.3 系数等比例缩小（Scaling） | 第63-68页 |
| 3.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 第四章 电路非理性因素的讨论及解决方法 | 第69-93页 |
| 4.1 额外环路延时 | 第69-76页 |
| 4.1.1 ELD的影响 | 第69-71页 |
| 4.1.2 ELD的补偿方法 | 第71-73页 |
| 4.1.3 本文的低功耗ELD补偿 | 第73-76页 |
| 4.2 时钟抖动 | 第76-80页 |
| 4.2.1 时钟抖动和DAC波形 | 第76-80页 |
| 4.3 工艺偏差 | 第80-82页 |
| 4.4 多位DAC的非线性 | 第82-85页 |
| 4.4.1 多位DAC非线性的影响 | 第82-83页 |
| 4.4.2 多位DAC的线性化技术 | 第83-85页 |
| 4.5 运算放大器的非理想因素 | 第85-88页 |
| 4.5.1 运算放大器的有限增益 | 第86-87页 |
| 4.5.2 运算放大器有限带宽 | 第87-88页 |
| 4.6 量化器的非理想因素 | 第88-89页 |
| 4.7 输入噪声 | 第89-90页 |
| 4.8 噪声分配 | 第90-91页 |
| 4.9 本章小结 | 第91-93页 |
| 第五章 连续时间 Δ-Σ ADC的实现 | 第93-136页 |
| 5.1 环路滤波器的电路设计 | 第93-110页 |
| 5.1.1 积分器的噪声 | 第93页 |
| 5.1.2 运算放大器的设计 | 第93-105页 |
| 5.1.3 环路滤波器设计 | 第105-106页 |
| 5.1.4 过载自动恢复电路的设计 | 第106-110页 |
| 5.2 反馈DAC的电路设计 | 第110-115页 |
| 5.2.1 DAC的噪声分析 | 第110-112页 |
| 5.2.2 反馈DAC电路设计 | 第112-114页 |
| 5.2.3 DEM设计 | 第114-115页 |
| 5.3 量化器的电路设计 | 第115-119页 |
| 5.3.1 前置放大器电路设计 | 第116-117页 |
| 5.3.2 比较器的电路设计 | 第117-118页 |
| 5.3.3 时钟产生电路 | 第118-119页 |
| 5.4 校准模块的电路设计 | 第119-127页 |
| 5.4.1 RC常数自动校准模块 | 第119-121页 |
| 5.4.2 直流偏移自动校准模块 | 第121-125页 |
| 5.4.3 电源电压检测电路 | 第125-127页 |
| 5.5 电路整体仿真结果 | 第127-130页 |
| 5.6 版图设计 | 第130-134页 |
| 5.6.1 减小器件之间的失配 | 第131-132页 |
| 5.6.2 减小耦合和干扰 | 第132-134页 |
| 5.7 本章小结 | 第134-136页 |
| 第六章 连续时间 Δ-Σ ADC的测试 | 第136-153页 |
| 6.1 Δ-Σ 调制器的SNDR和DR测试 | 第137-140页 |
| 6.2 ADC线性测试 | 第140-141页 |
| 6.3 接收通道整体性能测试 | 第141-143页 |
| 6.4 过载自动恢复测试 | 第143-144页 |
| 6.5 测试结果总结及比较 | 第144-151页 |
| 6.6 本章小结 | 第151-153页 |
| 总结与展望 | 第153-157页 |
| 全文总结 | 第153-156页 |
| 研究内容总结 | 第153-155页 |
| 主要创新成果 | 第155-156页 |
| 展望 | 第156-157页 |
| 参考文献 | 第157-174页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第174-177页 |
| 致谢 | 第177-178页 |
| 附件 | 第178页 |
