超小信号低噪声放大器设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 低噪声放大器发展趋势 | 第10-12页 |
| 1.3 低噪声放大器研究意义 | 第12-13页 |
| 1.4 课题研究的主要内容与安排 | 第13-15页 |
| 第2章 噪声基础及分析 | 第15-26页 |
| 2.1 噪声系数的概念 | 第15-19页 |
| 2.1.1 噪声系数的定义 | 第15-18页 |
| 2.1.2 热噪声的噪声表征 | 第18页 |
| 2.1.3 噪声功率谱密度 | 第18-19页 |
| 2.1.4 级联网络的噪声系数 | 第19页 |
| 2.2 噪声的分类 | 第19-21页 |
| 2.3 器件噪声分析 | 第21-25页 |
| 2.3.1 双极晶体管的噪声 | 第21-23页 |
| 2.3.2 场效应晶体管的噪声 | 第23-24页 |
| 2.3.3 半导体二极管及电阻的噪声 | 第24-25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 低噪声放大器设计方法 | 第26-41页 |
| 3.1 关键参数介绍 | 第26-31页 |
| 3.1.1 工作频段和带宽 | 第26-27页 |
| 3.1.2 增益和增益平坦度 | 第27-29页 |
| 3.1.3 电压驻波比 | 第29-30页 |
| 3.1.4 1dB压缩点 | 第30页 |
| 3.1.5 互调失真 | 第30-31页 |
| 3.2 电路设计原则 | 第31-36页 |
| 3.2.1 目标的设定 | 第31-32页 |
| 3.2.2 晶体管的选择 | 第32-35页 |
| 3.2.3 PCB基材选择 | 第35-36页 |
| 3.3 电路稳定性分析 | 第36-39页 |
| 3.3.1 稳定判别圆 | 第36-38页 |
| 3.3.2 绝对稳定条件 | 第38页 |
| 3.3.3 潜在不稳定情况 | 第38-39页 |
| 3.4 参数的测量 | 第39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-41页 |
| 第4章 ADS仿真设计 | 第41-53页 |
| 4.1 ADS仿真软件介绍 | 第41页 |
| 4.2 性能指标和仿真步骤 | 第41-42页 |
| 4.2.1 设计指标 | 第41-42页 |
| 4.2.2 具体步骤 | 第42页 |
| 4.3 电路仿真设计 | 第42-52页 |
| 4.3.1 直流信号分析 | 第42-44页 |
| 4.3.2 偏置电路设计 | 第44-45页 |
| 4.3.3 稳定性分析及优化 | 第45-47页 |
| 4.3.4 噪声系数及阻抗匹配 | 第47-50页 |
| 4.3.5 整体电路的优化仿真 | 第50-52页 |
| 4.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 低噪声放大器的调试结果 | 第53-59页 |
| 5.1 低噪声放大器的版图设计 | 第53-54页 |
| 5.1.1 PCB设计注意事项 | 第53-54页 |
| 5.1.2 PCB版图的实现 | 第54页 |
| 5.2 低噪声放大器的硬件调测 | 第54-59页 |
| 第6章 结论 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
