数字集成电路测试仪软件设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·课题选题依据 | 第9页 |
| ·国内外研究情况 | 第9-11页 |
| ·国外研究的发展和现状 | 第9-10页 |
| ·国内研究的发展和现状 | 第10-11页 |
| ·现阶段存在的问题及发展趋势 | 第11页 |
| ·现阶段存在的问题 | 第11页 |
| ·发展趋势 | 第11页 |
| ·本测试系统的特点 | 第11页 |
| ·本文的研究内容 | 第11-13页 |
| 第二章 集成电路测试系统简介 | 第13-26页 |
| ·系统设计目标 | 第13页 |
| ·系统设计原则 | 第13页 |
| ·系统硬件构成 | 第13-16页 |
| ·系统硬件总体结构 | 第13-15页 |
| ·系统硬件测试能力 | 第15-16页 |
| ·系统总体软件简介 | 第16-23页 |
| ·软件总体设计 | 第16-20页 |
| ·软件开发平台 | 第20-22页 |
| ·数据库 | 第22-23页 |
| ·系统总体测试流程 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-26页 |
| 第三章 数字集成电路测试软件设计 | 第26-66页 |
| ·数字集成电路测试概述 | 第26-28页 |
| ·基本概念 | 第26页 |
| ·基本测试原理和测试要求 | 第26-27页 |
| ·输出响应测试方法 | 第27-28页 |
| ·数字集成电路测试顺序 | 第28-29页 |
| ·数字集成电路测试项目及原理 | 第29-35页 |
| ·接触性测试原理 | 第29-30页 |
| ·功能测试原理 | 第30-32页 |
| ·直流参数测试原理 | 第32-35页 |
| ·集成电路测试软件设计 | 第35-65页 |
| ·软件设计原则 | 第35页 |
| ·软件架构及功能简介 | 第35-37页 |
| ·软件主要模块构成及详细设计 | 第37-64页 |
| ·软件测试总体流程 | 第64-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第四章 软件调试 | 第66-70页 |
| ·软件调试的目标和原则 | 第66页 |
| ·实验室软件调试 | 第66-69页 |
| ·软件调试步骤和方法 | 第66-67页 |
| ·软件调试遇到的问题及解决方法 | 第67-69页 |
| ·实验室软件调试结果 | 第69页 |
| ·现场调试结果 | 第69-70页 |
| 第五章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第75-76页 |
