基于虚拟仪器的远程CMOS集成电路辐射在线动态测试系统设计
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| Abstract | 第9页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 虚拟仪器 | 第11-14页 |
| 1.2.1 虚拟仪器的概述 | 第11-12页 |
| 1.2.2 虚拟仪器的特点 | 第12-14页 |
| 1.3 本文的主要工作及章节安排 | 第14-16页 |
| 第2章 辐照效应及待测电路概述 | 第16-34页 |
| 2.1 辐照效应 | 第16-26页 |
| 2.1.1 辐照环境 | 第16-17页 |
| 2.1.2 位移损伤 | 第17-18页 |
| 2.1.3 辐照总剂量效应 | 第18-20页 |
| 2.1.4 瞬态辐照效应 | 第20页 |
| 2.1.5 单粒子效应 | 第20-22页 |
| 2.1.6 实测辐照总剂量效应对元器件的影响 | 第22-26页 |
| 2.2 待测样品基本构成及结构特点 | 第26-34页 |
| 2.2.1 数字模拟转换器 | 第27-31页 |
| 2.2.1.1 数模转换器的静态参数指标 | 第28-31页 |
| 2.2.2 温度传感器 | 第31-34页 |
| 第3章 测试系统硬件部分设计及仪器选型 | 第34-50页 |
| 3.1 测试系统的设计要求 | 第34页 |
| 3.2 测试系统的总体实现方案 | 第34-37页 |
| 3.2.1 硬件接口总线和上位机 | 第36-37页 |
| 3.2.1.1 硬件接口总线 | 第36页 |
| 3.2.1.2 上位机 | 第36-37页 |
| 3.3 FPGA板卡及其适配器 | 第37-39页 |
| 3.3.1 FPGA部分系统需求 | 第37-38页 |
| 3.3.2 FPGA部分解决方案 | 第38-39页 |
| 3.4 模拟电压实时采集系统 | 第39-42页 |
| 3.4.1 模拟电压实时采集部分系统需求 | 第39-40页 |
| 3.4.2 模拟电压实时采集部分系统解决方案 | 第40-42页 |
| 3.5 供电及多功能实时遥测系统 | 第42-46页 |
| 3.5.1 供电及多功能实时遥测需求 | 第42-43页 |
| 3.5.2 供电及多功能实时遥测系统解决方案 | 第43-46页 |
| 3.6 开关矩阵部分 | 第46-48页 |
| 3.6.1 开关矩阵部分需求 | 第46-47页 |
| 3.6.2 开关矩阵部分解决方案 | 第47-48页 |
| 3.7 外围电路设计 | 第48-50页 |
| 3.7.1 外围电路需求 | 第48-49页 |
| 3.7.2 外围电路实现 | 第49-50页 |
| 第4章 测试系统软件部分设计 | 第50-72页 |
| 4.1 软件语言 | 第50-53页 |
| 4.1.1 LabVIEW语言简介 | 第50-51页 |
| 4.1.2 LabVIEW语言的特点 | 第51-53页 |
| 4.2 软件总体架构设计 | 第53-54页 |
| 4.3 FPGA的设计及实现 | 第54-60页 |
| 4.3.1 待测芯片逻辑时序 | 第54-60页 |
| 4.4 模拟电压采集部分的设计及实现 | 第60-63页 |
| 4.5 供电及多功能实时遥测部分的设计及实现 | 第63-67页 |
| 4.6 温度传感、数据储存及处理部分的设计及实现 | 第67-70页 |
| 4.7 用户UI的设计及实现 | 第70-72页 |
| 第5章 测试情况及结果 | 第72-87页 |
| 5.1 测试现场情况 | 第72-74页 |
| 5.1.1 测试前准备工作 | 第72-74页 |
| 5.2 测试结果及分析 | 第74-87页 |
| 5.2.1 测试结果 | 第75-85页 |
| 5.2.1.1 总剂量测试结果 | 第75-83页 |
| 5.2.1.2 单粒子测试结果 | 第83-85页 |
| 5.2.2 分析与结论 | 第85-87页 |
| 第6章 总结与展望 | 第87-88页 |
| 参考文献 | 第88-92页 |
| 作者简介 | 第92页 |
