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面向RF自动测试平台应用的DDR2-SDRAM控制器设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第9-15页
    1.1 论文研究背景及意义第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-12页
        1.2.1 Predator控制器第10-11页
        1.2.2 AMC控制器第11-12页
        1.2.3 PRET控制器第12页
    1.3 研究内容与设计指标第12-13页
    1.4 论文的结构安排第13-15页
第二章 RF自动测试平台及存储系统第15-23页
    2.1 RF自动测试平台介绍第15-18页
        2.1.1 测试平台功能描述第15-16页
        2.1.2 测试平台系统方案第16-17页
        2.1.3 FPGA测试基板第17-18页
    2.2 RF自动测试平台存储系统设计第18-21页
        2.2.1 静态存储器SRAM第18-19页
        2.2.2 动态存储器SDRAM第19-20页
        2.2.3 RF自动测试平台存储系统架构第20-21页
    2.3 本章小结第21-23页
第三章 DDR2-SDRAM控制器方案设计第23-37页
    3.1 DDR2-SDRAM基础第23-27页
        3.1.1 DDR2内存模组(DIMM)结构第23-26页
        3.1.2 DDR2时序要求第26-27页
    3.2 DDR2-SDRAM存储控制器设计要点第27-33页
        3.2.1 仲裁第28页
        3.2.2 指令生成第28-29页
        3.2.3 存储映射第29-32页
        3.2.4 刷新机制第32-33页
    3.3 针对延迟优化的DDR2-SDRAM控制器方案设计第33-36页
    3.4 本章小结第36-37页
第四章 DDR2-SDRAM控制器的硬件设计第37-53页
    4.1 控制器的整体架构与结构划分第37-38页
    4.2 初始化模块设计第38-41页
        4.2.1 功能描述第38-40页
        4.2.2 设计实现第40-41页
    4.3 命令生成模块设计第41-44页
        4.3.1 功能描述第41-43页
        4.3.2 设计实现第43-44页
    4.4 数据通路模块设计第44-49页
        4.4.1 写数据通路第45-46页
        4.4.2 读数据通路第46-48页
        4.4.3 双端口异步fifo第48-49页
    4.5 主控制模块设计第49-51页
        4.5.1 主控状态机第49-50页
        4.5.2 刷新计数第50-51页
    4.6 本章小结第51-53页
第五章 DDR2-SDRAM控制器验证与性能评估第53-61页
    5.1 仿真验证第53-56页
        5.1.1 测试平台搭建第54-55页
        5.1.2 测试激励设计第55页
        5.1.3 验证结果第55-56页
    5.2 FPGA验证第56-58页
        5.2.1 测试平台搭建第56-57页
        5.2.2 测试激励设计第57-58页
        5.2.3 验证结果第58页
    5.3 性能评估第58-60页
        5.3.1 带宽计算第58-59页
        5.3.2 延迟计算第59页
        5.3.3 性能比较第59-60页
    5.4 本章小结第60-61页
第六章 总结与展望第61-63页
    6.1 总结第61页
    6.2 展望第61-63页
参考文献第63-65页
致谢第65-67页
攻读硕士学位期间发表的论文第67页

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